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Lab Manufacturers China
高分辨率粉末 X 射线衍射仪 — 产品图片

高分辨率粉末 X 射线衍射仪

High-Resolution Powder X-Ray Diffractometer

  • SKU XRD-0002
  • X 射线粉末衍射仪
  • CE (to be confirmed)
  • Radiation safety enclosure (to be confirmed)
  • ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)

价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价

价格取决于配置、数量与目的港。

主要技术参数

主要技术参数
2-theta 范围0–160°
角度分辨率< 0.05° FWHM
X 射线管功率1–3 kW
单色器incident-beam Ge or mirror
测角仪半径240–320 mm
检测器solid-state or position-sensitive
索取报价 下载手册 · 待提供

作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:USP <941> X-Ray Diffraction, ASTM E915 Verifying the alignment of X-ray diffraction instrumentation, ASTM D934 Identification of crystalline compounds in water-formed deposits

什么是高分辨率粉末 X 射线衍射仪?

高分辨率粉末 X 射线衍射仪使用长臂、精密测角仪和单色光学获取准确数据。它适合晶格参数、Rietveld 精修和高要求的定量物相分析。

什么是高分辨率粉末 X 射线衍射仪?高分辨率粉末 X 射线衍射仪使用长臂、精密测角仪和单色光学获取准确数据。它适合晶格参数、Rietveld 精修和高要求的定量物相分析。## 概述

该研究级系统结合高功率 X 射线管、入射束单色器或反射镜光学、长半径高精度测角仪以及固态或位敏检测器。结果得到窄而分辨良好的峰和低背景,可实现准确晶格参数、微晶尺寸和应变分析,以及复杂多相混合物可靠的 Rietveld 精修。配置包括 theta-theta 或 theta-2theta 几何、用于不规则样品的平行束光学以及用于有机物的毛细管透射。入射束单色器去除 K-beta 和荧光,对含铁和钴样品很重要。用有证标准品验证角度分辨率、零点误差和仪器峰形。系统需要稳固基础、水冷或风冷以及受控环境。## 工作原理是什么?聚焦的 X 射线束(通常为铜 K-alpha 辐射)照射粉末或多晶样品。晶格平面散射该束,在满足布拉格定律(n 乘 lambda 等于两倍 d 乘 sine theta)的角度发生相长干涉。检测器随束与样品之间角度的变化记录峰位和强度,得到衍射图。峰位揭示晶格间距并从参考数据库鉴定物相,峰强度给出相对物相量,峰宽与微晶尺寸和微观应变相关。择优取向、样品位移和荧光会使结果失真,因此样品制备和仪器对位至关重要。现代仪器采用 theta-theta 几何、固态或位敏检测器以及用于检索匹配、Rietveld 精修和峰形分析的软件。## 主要特点有哪些?- 高功率管配入射束单色器 - 长半径高精度测角仪 - 峰窄且背景低 - 准确的晶格参数测定 - 多相样品可靠的 Rietveld 精修 - 平行束和毛细管透射选项

技术参数有哪些?典型的高分辨率粉末 X 射线衍射仪配置:2-theta 范围为 0–160°;角度分辨率为 < 0.05° FWHM;X 射线管功率为 1–3 kW;单色器为 incident-beam Ge or mirror;测角仪半径为 240–320 mm;检测器为 solid-state or position-sensitive。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?高分辨率粉末 X 射线衍射仪主要用于晶格参数和微晶尺寸研究、多相材料的定量物相分析、药物晶型表征、电池、催化剂和合金物相研究。在更广泛的 X 射线粉末衍射仪类别中,实验室还将其用于药物多晶型和结晶度检测、水泥、熟料和矿物物相分析、催化剂、电池和陶瓷材料。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 USP <941> X-Ray Diffraction、ASTM E915 Verifying the alignment of X-ray diffraction instrumentation、ASTM D934 Identification of crystalline compounds in water-formed deposits、ISO 20203 Carbonaceous materials for aluminium production—XRD of calcined coke、ISO/IEC 17025、IEC 61010-2-091。本型号的认证候选包括 CE、Radiation safety enclosure、ISO 9001 manufacturing;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。X 射线衍射仪是受监管的辐射装置,需要屏蔽、联锁、辐射巡测和受训操作者。粉末样品必须细磨并重现装填,因为颗粒尺寸、堆密度和择优取向会使峰强度偏差;背装、侧装或旋转样品台可减少取向效应。含铁、钴或锰样品的荧光会提高铜辐射下的背景,可能需要更换波长或使用单色器。用硅或刚玉等标准品验证对位、零点偏移和仪器峰形。检测器和 X 射线管是磨损件,应定期检查测角仪校准。保存样品制备记录以实现方法可追溯性。## 如何选择合适的高分辨率粉末 X 射线衍射仪?当需要准确晶格参数、微晶尺寸和应变或稳健的 Rietveld 定量时,例如制药、电池和先进材料研究,选择高分辨率系统。请说明所需分辨率、2-theta 范围和样品台,并确认对位和性能验证标准品。### 与其他 X 射线粉末衍射仪型号相比如何?应根据分辨率、检测器类型、样品环境和通量选择粉末衍射仪。台式仪器紧凑易用,适合物相鉴定和常规质量控制,但分辨率和附件较少。高分辨率研究系统使用长臂、单色器和高精度测角仪,用于精确晶格参数、定量分析和复杂峰形拟合。原位系统增加加热、冷却、湿度或气体台用于时间分辨研究。微聚焦仪器提供小束斑用于包裹体和小样品。透射几何适合弱吸收有机和制药材料,并可减少择优取向。确认 2-theta 范围、角度分辨率、自动进样器容量以及 Rietveld 和 PDF 数据库访问等软件功能符合应用需求。

完整技术参数

完整技术参数
2-theta 范围0–160°
角度分辨率< 0.05° FWHM
X 射线管功率1–3 kW
单色器incident-beam Ge or mirror
测角仪半径240–320 mm
检测器solid-state or position-sensitive
测量时间10–120 min per scan
样品台reflection, capillary, spinning
冷却water or air
通信接口Ethernet

以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。

应用领域

  • 晶格参数和微晶尺寸研究
  • 多相材料的定量物相分析
  • 药物晶型表征
  • 电池、催化剂和合金物相研究

主要特点

  • 高功率管配入射束单色器
  • 长半径高精度测角仪
  • 峰窄且背景低
  • 准确的晶格参数测定
  • 多相样品可靠的 Rietveld 精修
  • 平行束和毛细管透射选项

关于高分辨率粉末 X 射线衍射仪的常见问题

Rietveld 精修受益于窄而明确的峰,因此半高宽低于约 0.1 度且背景低是理想的。更高分辨率改善重叠反射的分离,对低对称或多相材料很重要。

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请将配置、数量与目的港发送至 sales@labmanufacturerschina.com,我们将回复规格书与价格。

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