

带温度台的原位 X 射线衍射仪
In-Situ X-Ray Diffractometer with Temperature Stage
- SKU XRD-0003
- X 射线粉末衍射仪
- CE (to be confirmed)
- Radiation safety enclosure (to be confirmed)
- Pressure vessel conformance (to be confirmed)
价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价
价格取决于配置、数量与目的港。
主要技术参数
| 温度范围 | -190 to 1600 °C |
|---|---|
| 升温速率 | 0.1–100 °C/min |
| 气氛 | air, inert, vacuum, reactive gas |
| 2-theta 范围 | 5–120° typical |
| 检测器 | position-sensitive, fast |
| 扫描时间 | 10 s to 5 min |
作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:USP <941> X-Ray Diffraction, ASTM E915 Verifying the alignment of X-ray diffraction instrumentation, ASTM D934 Identification of crystalline compounds in water-formed deposits
什么是带温度台的原位 X 射线衍射仪?
原位 X 射线衍射仪增加受控样品环境,可实时跟踪结构变化。它适合相变、脱水、烧结、催化和电池循环研究。
什么是带温度台的原位 X 射线衍射仪?原位 X 射线衍射仪增加受控样品环境,可实时跟踪结构变化。它适合相变、脱水、烧结、催化和电池循环研究。## 概述
该系统将衍射仪与可控制温度、气氛或湿度的样品台结合,同时重复记录衍射图。加热台可从中温升至 1500 摄氏度以上,冷却台使用液氮或珀尔帖元件,气体或湿度池模拟反应或储存条件。快速检测器和短扫描捕获时间分辨序列,软件对齐并比较图谱以鉴定相变、反应路径、热膨胀和结晶。腔体窗口必须对 X 射线透明且机械稳定,用标准品进行温度校准必不可少。该技术对催化剂开发、电池电极研究、水泥水化、金属氧化和药物稳定性至关重要,因为它揭示淬灭样品遗漏的中间物相。## 工作原理是什么?聚焦的 X 射线束(通常为铜 K-alpha 辐射)照射粉末或多晶样品。晶格平面散射该束,在满足布拉格定律(n 乘 lambda 等于两倍 d 乘 sine theta)的角度发生相长干涉。检测器随束与样品之间角度的变化记录峰位和强度,得到衍射图。峰位揭示晶格间距并从参考数据库鉴定物相,峰强度给出相对物相量,峰宽与微晶尺寸和微观应变相关。择优取向、样品位移和荧光会使结果失真,因此样品制备和仪器对位至关重要。现代仪器采用 theta-theta 几何、固态或位敏检测器以及用于检索匹配、Rietveld 精修和峰形分析的软件。## 主要特点有哪些?- 从中温至 1500 °C 以上的加热台 - 液氮或珀尔帖冷却 - 气体、真空和湿度池选项 - 用于时间分辨扫描的快速检测器 - 相变分析软件 - 对 X 射线透明的腔体窗口
技术参数有哪些?典型的带温度台的原位 X 射线衍射仪配置:温度范围为 -190 to 1600 °C;升温速率为 0.1–100 °C/min;气氛为 air, inert, vacuum, reactive gas;2-theta 范围为 5–120° typical;检测器为 position-sensitive, fast;扫描时间为 10 s to 5 min。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?带温度台的原位 X 射线衍射仪主要用于反应中催化剂物相演变、电池电极循环研究、水泥水化和脱水、金属氧化和烧结行为。在更广泛的 X 射线粉末衍射仪类别中,实验室还将其用于药物多晶型和结晶度检测、水泥、熟料和矿物物相分析、催化剂、电池和陶瓷材料。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 USP <941> X-Ray Diffraction、ASTM E915 Verifying the alignment of X-ray diffraction instrumentation、ASTM D934 Identification of crystalline compounds in water-formed deposits、ISO 20203 Carbonaceous materials for aluminium production—XRD of calcined coke、ISO/IEC 17025、IEC 61010-2-091。本型号的认证候选包括 CE、Radiation safety enclosure、Pressure vessel conformance;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。X 射线衍射仪是受监管的辐射装置,需要屏蔽、联锁、辐射巡测和受训操作者。粉末样品必须细磨并重现装填,因为颗粒尺寸、堆密度和择优取向会使峰强度偏差;背装、侧装或旋转样品台可减少取向效应。含铁、钴或锰样品的荧光会提高铜辐射下的背景,可能需要更换波长或使用单色器。用硅或刚玉等标准品验证对位、零点偏移和仪器峰形。检测器和 X 射线管是磨损件,应定期检查测角仪校准。保存样品制备记录以实现方法可追溯性。## 如何选择合适的带温度台的原位 X 射线衍射仪?当温度、气氛或时间引起的结构变化对研究至关重要,且淬灭或非原位样品会遗漏中间物相时,选择原位衍射仪。请说明温度和气氛范围、扫描速度和窗口材料。确认温度校准且样品台适合衍射仪几何。### 与其他 X 射线粉末衍射仪型号相比如何?应根据分辨率、检测器类型、样品环境和通量选择粉末衍射仪。台式仪器紧凑易用,适合物相鉴定和常规质量控制,但分辨率和附件较少。高分辨率研究系统使用长臂、单色器和高精度测角仪,用于精确晶格参数、定量分析和复杂峰形拟合。原位系统增加加热、冷却、湿度或气体台用于时间分辨研究。微聚焦仪器提供小束斑用于包裹体和小样品。透射几何适合弱吸收有机和制药材料,并可减少择优取向。确认 2-theta 范围、角度分辨率、自动进样器容量以及 Rietveld 和 PDF 数据库访问等软件功能符合应用需求。
完整技术参数
| 温度范围 | -190 to 1600 °C |
|---|---|
| 升温速率 | 0.1–100 °C/min |
| 气氛 | air, inert, vacuum, reactive gas |
| 2-theta 范围 | 5–120° typical |
| 检测器 | position-sensitive, fast |
| 扫描时间 | 10 s to 5 min |
| 湿度控制 | optional 5–95% RH |
| 窗口材料 | beryllium or kapton |
| 温度准确度 | ±1 °C with calibration |
| 通信接口 | Ethernet |
以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。
应用领域
- 反应中催化剂物相演变
- 电池电极循环研究
- 水泥水化和脱水
- 金属氧化和烧结行为
主要特点
- 从中温至 1500 °C 以上的加热台
- 液氮或珀尔帖冷却
- 气体、真空和湿度池选项
- 用于时间分辨扫描的快速检测器
- 相变分析软件
- 对 X 射线透明的腔体窗口
关于带温度台的原位 X 射线衍射仪的常见问题
淬灭可能保留亚稳相、导致物相在冷却时转变,或完全遗漏瞬态中间体。原位衍射在真实条件下记录物相序列,这对理解反应路径、动力学以及温度和气氛的影响至关重要。
用已知相变或熔融温度的材料(如特定盐类)校准样品台,并将所测转变与参考值比较。窗口更换或热电偶更换后重复校准,不确定度随数据一并报告。
使用位敏检测器时,在有限 2-theta 范围内的可用图谱可在数十秒内采集,从而对快速反应进行时间分辨研究。全范围高分辨率扫描耗时更长。范围、时间与分辨率之间的平衡按实验选择。
将样品研磨成细而均匀的粉末,然后通过背装或侧装装入样品架,使表面平整且与架边齐平。旋转或使用零背景样品架可减少择优取向和背景。制备质量强烈影响相对峰强度。
片状或针状微晶在装填时取向排列,使部分晶格平面衍射过强,扭曲定量结果。温和研磨、侧装、喷雾干燥和样品旋转可减少该效应。当取向程度已知时,Rietveld 精修可建模并校正残余取向。
定量物相分析将所测峰强度与参考强度比比较,或利用已知晶体结构进行全谱 Rietveld 精修。复杂混合物优先使用 Rietveld,因为其拟合整个图谱并考虑重叠、背景和择优取向。准确度取决于良好的样品制备和结构模型。
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