

定量物相分析 X 射线衍射仪
Quantitative Phase Analysis X-Ray Diffractometer
- SKU XRD-0006
- X 射线粉末衍射仪
- CE (to be confirmed)
- Radiation safety enclosure (to be confirmed)
- ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价
价格取决于配置、数量与目的港。
主要技术参数
| 2-theta 范围 | 5–120° |
|---|---|
| 角度准确度 | ±0.01° |
| X 射线管功率 | 1–3 kW |
| 检测器 | solid-state with wide linear range |
| 定量方法 | Rietveld, internal standard, RIR |
| 无定形测定 | internal standard method |
作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:USP <941> X-Ray Diffraction, ASTM E915 Verifying the alignment of X-ray diffraction instrumentation, ASTM D934 Identification of crystalline compounds in water-formed deposits
什么是定量物相分析 X 射线衍射仪?
定量物相分析 X 射线衍射仪针对使用 Rietveld 精修或参考强度比的准确物相比例优化。它适合水泥、矿物、催化剂和多相材料。
什么是定量物相分析 X 射线衍射仪?定量物相分析 X 射线衍射仪针对使用 Rietveld 精修或参考强度比的准确物相比例优化。它适合水泥、矿物、催化剂和多相材料。## 概述
该配置强调可靠定量所需的稳定性、分辨率和软件。它通常包括稳定的高压发生器、精密测角仪、低背景样品架、可选旋转器和入射束单色器,以及在宽强度范围内线性良好的检测器。定量使用带已知晶体结构的全谱 Rietveld 精修、内标法或来自校准标准品的参考强度比。无定形含量通过加入刚玉或氧化锌等结晶内标测定。样品制备控制颗粒尺寸、装填和取向,用标准品验证仪器对位和强度校准。该方法在水泥和熟料分析、矿物加工、催化剂和多相工业材料中是标准做法。## 工作原理是什么?聚焦的 X 射线束(通常为铜 K-alpha 辐射)照射粉末或多晶样品。晶格平面散射该束,在满足布拉格定律(n 乘 lambda 等于两倍 d 乘 sine theta)的角度发生相长干涉。检测器随束与样品之间角度的变化记录峰位和强度,得到衍射图。峰位揭示晶格间距并从参考数据库鉴定物相,峰强度给出相对物相量,峰宽与微晶尺寸和微观应变相关。择优取向、样品位移和荧光会使结果失真,因此样品制备和仪器对位至关重要。现代仪器采用 theta-theta 几何、固态或位敏检测器以及用于检索匹配、Rietveld 精修和峰形分析的软件。## 主要特点有哪些?- 稳定发生器和精密测角仪 - 低背景样品架和旋转器选项 - 宽线性强度范围的检测器 - 带结构数据库的 Rietveld 精修 - 测定无定形含量的内标法 - 用有证标准品进行强度校准
技术参数有哪些?典型的定量物相分析 X 射线衍射仪配置:2-theta 范围为 5–120°;角度准确度为 ±0.01°;X 射线管功率为 1–3 kW;检测器为 solid-state with wide linear range;定量方法为 Rietveld, internal standard, RIR;无定形测定为 internal standard method。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?定量物相分析 X 射线衍射仪主要用于水泥和熟料物相定量、矿物加工和矿石矿物学、催化剂物相组成、多相工业和陶瓷材料。在更广泛的 X 射线粉末衍射仪类别中,实验室还将其用于药物多晶型和结晶度检测、水泥、熟料和矿物物相分析、催化剂、电池和陶瓷材料。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 USP <941> X-Ray Diffraction、ASTM E915 Verifying the alignment of X-ray diffraction instrumentation、ASTM D934 Identification of crystalline compounds in water-formed deposits、ISO 20203 Carbonaceous materials for aluminium production—XRD of calcined coke、ISO/IEC 17025、IEC 61010-2-091。本型号的认证候选包括 CE、Radiation safety enclosure、ISO 9001 manufacturing;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。X 射线衍射仪是受监管的辐射装置,需要屏蔽、联锁、辐射巡测和受训操作者。粉末样品必须细磨并重现装填,因为颗粒尺寸、堆密度和择优取向会使峰强度偏差;背装、侧装或旋转样品台可减少取向效应。含铁、钴或锰样品的荧光会提高铜辐射下的背景,可能需要更换波长或使用单色器。用硅或刚玉等标准品验证对位、零点偏移和仪器峰形。检测器和 X 射线管是磨损件,应定期检查测角仪校准。保存样品制备记录以实现方法可追溯性。## 如何选择合适的定量物相分析 X 射线衍射仪?当必须常规报告准确的物相比例(含无定形含量)时,例如水泥、矿物和催化剂,选择针对定量优化的系统。请说明物相、预期比例和所需准确度。确认软件支持 Rietveld、内标和参考强度比方法,并规划基于标准品的强度校准。### 与其他 X 射线粉末衍射仪型号相比如何?应根据分辨率、检测器类型、样品环境和通量选择粉末衍射仪。台式仪器紧凑易用,适合物相鉴定和常规质量控制,但分辨率和附件较少。高分辨率研究系统使用长臂、单色器和高精度测角仪,用于精确晶格参数、定量分析和复杂峰形拟合。原位系统增加加热、冷却、湿度或气体台用于时间分辨研究。微聚焦仪器提供小束斑用于包裹体和小样品。透射几何适合弱吸收有机和制药材料,并可减少择优取向。确认 2-theta 范围、角度分辨率、自动进样器容量以及 Rietveld 和 PDF 数据库访问等软件功能符合应用需求。
完整技术参数
| 2-theta 范围 | 5–120° |
|---|---|
| 角度准确度 | ±0.01° |
| X 射线管功率 | 1–3 kW |
| 检测器 | solid-state with wide linear range |
| 定量方法 | Rietveld, internal standard, RIR |
| 无定形测定 | internal standard method |
| 样品架 | low-background, spinning |
| 测量时间 | 15–90 min per sample |
| 标准品 | certified intensity standards |
| 通信接口 | Ethernet |
以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。
应用领域
- 水泥和熟料物相定量
- 矿物加工和矿石矿物学
- 催化剂物相组成
- 多相工业和陶瓷材料
主要特点
- 稳定发生器和精密测角仪
- 低背景样品架和旋转器选项
- 宽线性强度范围的检测器
- 带结构数据库的 Rietveld 精修
- 测定无定形含量的内标法
- 用有证标准品进行强度校准
关于定量物相分析 X 射线衍射仪的常见问题
向样品中加入已知量的结晶内标,如刚玉或氧化锌。Rietveld 精修测定晶相和标准品,与称量量之差即为无定形比例。准确的称量和均匀混合必不可少。
对结晶良好的主相,在制备和校准良好时,Rietveld 定量通常可达约一到两个重量百分比的绝对误差。对微量相、纳米晶材料和强吸收基体,准确度下降。可达性能应针对每种具体材料验证。
旋转平均微晶取向并改善强度重现性,低背景样品架减少来自样品架本身的宽散射,这对微量相和无定形相很重要。两者都提高定量结果的准确度,是定量方法的标准配置。
将样品研磨成细而均匀的粉末,然后通过背装或侧装装入样品架,使表面平整且与架边齐平。旋转或使用零背景样品架可减少择优取向和背景。制备质量强烈影响相对峰强度。
片状或针状微晶在装填时取向排列,使部分晶格平面衍射过强,扭曲定量结果。温和研磨、侧装、喷雾干燥和样品旋转可减少该效应。当取向程度已知时,Rietveld 精修可建模并校正残余取向。
定量物相分析将所测峰强度与参考强度比比较,或利用已知晶体结构进行全谱 Rietveld 精修。复杂混合物优先使用 Rietveld,因为其拟合整个图谱并考虑重叠、背景和择优取向。准确度取决于良好的样品制备和结构模型。
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