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Lab Manufacturers China

表面轮廓仪

Surface Profilometers

SUP · 表面分析仪器 · 5 个型号

作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:ISO 4287, ISO 21920-2, ISO 25178-2

参考标准

  • ISO 4287
  • ISO 21920-2
  • ISO 25178-2
  • ISO 4288
  • ASTM D7127

什么是表面轮廓仪?

表面轮廓仪使用接触式触针或非接触光学方法测量表面形貌,包括粗糙度、波纹度、台阶高度和形状。机加工、半导体、光学、涂层、医疗器械和摩擦学实验室用其验证表面精整规格。

5 个型号 · 表面轮廓仪

以下 5 个型号为当前配置,具体参数以报价单为准。

接触式触针表面粗糙度轮廓仪

Contact Stylus Surface Roughness Profilometer

  • SUP-0001
  • 表面轮廓仪
  • CE (to be confirmed)
  • ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
  • Calibration traceability to national standards (to be confirmed)
垂直测量范围:
±250 µm (500 µm total)
垂直分辨率:
1–10 nm
行程长度:
0.5–120 mm
触针针尖半径:
2 µm or 5 µm
触针力:
0.75 mN (adjustable)
行程速度:
0.1–1 mm/s

带电动驱动和电感或激光传感器的台式触针仪器,可按 ISO 4287 测量机加工件的二维粗糙度和波纹度。是制造质量实验室中 Ra 和 Rz 验收测试的基准选择。

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白光干涉三维光学轮廓仪

White-Light Interferometric 3D Optical Profilometer

  • SUP-0002
  • 表面轮廓仪
  • CE (to be confirmed)
  • ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
  • Laser/LED safety classification (to be confirmed)
垂直分辨率:
< 0.1 nm (PSI); ~1 nm (CSI)
垂直扫描范围:
Up to 10 mm
物镜:
2.5×–100×
视场:
0.05–5 mm
横向分辨率:
0.35–4 µm (objective-dependent)
相机:
1–5 MP

采用垂直扫描白光干涉的非接触轮廓仪,可绘制面形,垂直分辨率达亚纳米级,并输出 Sa、Sq 和台阶高度。适合接触可能损伤样品的光滑表面、MEMS、薄膜和光学件。

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共聚焦激光扫描三维表面轮廓仪

Confocal Laser Scanning 3D Surface Profilometer

  • SUP-0003
  • 表面轮廓仪
  • CE (to be confirmed)
  • Laser safety Class 2 (to be confirmed)
  • ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
激光波长:
405 nm
物镜:
5×–150×
垂直分辨率:
1–10 nm
横向分辨率:
0.15–0.5 µm
Z 向扫描范围:
Up to 25 mm
最大可测斜率:
≈ 85° (rough)

利用扫描激光和针孔确定各点聚焦高度的非接触轮廓仪,可得到陡峭、粗糙和多材料表面的三维粗糙度。适合斜率高达约 80° 的机加工件、纹理模具和摩擦学样品。

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便携式手持表面粗糙度仪

Portable Handheld Surface Roughness Tester

  • SUP-0004
  • 表面轮廓仪
  • CE (to be confirmed)
  • RoHS (to be confirmed)
  • ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
垂直测量范围:
±80 µm
分辨率:
0.01 µm
行程长度:
6–17 mm
截止波长:
0.25, 0.8, 2.5 mm
参数:
Ra, Rz, Rq, Rt, Rp, Rv
示值精度:
±10%

内置导头传感器的电池供电袖珍触针仪器,可在车间数秒内测量 Ra、Rz 和 Rq。适合机加工件的过程检查和台式设备不便使用的来料检验。

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纳米尺度粗糙度用原子力显微轮廓仪

Atomic Force Microscope Profilometer for Nanoscale Roughness

  • SUP-0005
  • 表面轮廓仪
  • CE (to be confirmed)
  • ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
  • Laser safety Class 1 or 2 (to be confirmed)
扫描范围(XY):
Up to 90 × 90 µm
Z 向范围:
≈ 10 µm
垂直噪声:
< 0.05 nm RMS
横向分辨率:
≈ 1–5 nm
成像模式:
Contact, tapping, non-contact
图像分辨率:
Up to 4096 × 4096 px

通过感测尖锐悬臂针尖与表面之间作用力来测量纳米尺度形貌的扫描探针仪器。具有亚纳米垂直分辨率,用于光学分辨率不足的晶圆、薄膜、聚合物和纳米材料。

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对比表面轮廓仪型号

型号垂直测量范围垂直分辨率行程长度截止波长参数
接触式触针表面粗糙度轮廓仪SUP-0001±250 µm (500 µm total)1–10 nm0.5–120 mm0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8 mmRa, Rz, Rq, Rsk, Rku, Rmr, etc.
白光干涉三维光学轮廓仪SUP-0002—< 0.1 nm (PSI); ~1 nm (CSI)———
共聚焦激光扫描三维表面轮廓仪SUP-0003—1–10 nm———
便携式手持表面粗糙度仪SUP-0004±80 µm—6–17 mm0.25, 0.8, 2.5 mmRa, Rz, Rq, Rt, Rp, Rv
纳米尺度粗糙度用原子力显微轮廓仪SUP-0005—————

以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。

表面轮廓仪的工作原理是什么?触针式轮廓仪使金刚石针尖(通常半径 2 µm 或 5 µm)在小力作用下以恒定速度划过表面,传感器将其垂直位移转换为电信号。原始轮廓经高斯滤波器按截止波长(如 0.8 mm)分离为粗糙度和波纹度,并按 ISO 4287 计算 Ra、Rz 和 Rq 等参数。光学轮廓仪采用白光干涉、共聚焦显微或焦点变化,在垂直扫描时通过分析条纹对比度或清晰度确定每个像素的高度。它们在不接触样品的情况下生成面形图,并给出 ISO 25178 定义的 Sa 和 Sq 等参数。## 表面轮廓仪有哪些型号?- 接触式触针表面粗糙度轮廓仪:带电动驱动和电感或激光传感器的台式触针仪器,可按 ISO 4287 测量机加工件的二维粗糙度和波纹度。- 白光干涉三维光学轮廓仪:采用垂直扫描白光干涉的非接触轮廓仪,可绘制面形,垂直分辨率达亚纳米级,并输出 Sa、Sq 和台阶高度。- 共聚焦激光扫描三维表面轮廓仪:利用扫描激光和针孔确定各点聚焦高度的非接触轮廓仪,可得到陡峭、粗糙和多材料表面的三维粗糙度。- 便携式手持表面粗糙度仪:内置导头传感器的电池供电袖珍触针仪器,可在车间数秒内测量 Ra、Rz 和 Rq。- 纳米尺度粗糙度用原子力显微轮廓仪:通过感测尖锐悬臂针尖与表面之间作用力来测量纳米尺度形貌的扫描探针仪器。## 如何选择合适的型号?主要选择是接触式还是非接触式。触针式仪器可溯源,对陡坡和污物耐受,是机加工件 ISO 4287 粗糙度的基准,但可能划伤软质表面,且无法分辨小于针尖半径的特征。光学轮廓仪可快速测绘面积,适合精细涂层、MEMS 和薄膜,并给出三维参数,但对透明、极陡、高反射或高吸收表面有困难。应考虑垂直量程和分辨率、横向分辨率、扫描长度、样品尺寸和重量、隔振、软件滤波器,以及工作是否遵循 ISO 21920、ISO 25178 或 ASTM D7127。便携式粗糙度仪适合车间检查。## 表面轮廓仪用于哪些领域?表面轮廓仪广泛用于机加工件表面粗糙度、半导体薄膜台阶高度、光学元件粗糙度、涂层和磨痕分析、医疗植入物表面质量。## 适用哪些标准与认证?表面轮廓仪相关工作通常依据 ISO 4287、ISO 21920-2、ISO 25178-2、ISO 4288、ASTM D7127。CE 等仪器认证需按具体配置逐项确认,不作默认承诺。## 采购前需要考虑哪些要点?应将仪器放置在隔振台或重型台面上并远离气流,因为纳米级信号容易受到干扰。应按规定间隔用有证台阶高度或粗糙度标准器校准垂直和水平标尺,并定期检查触针磨损或针尖半径。测量前清洁样品并调平安装。方法中应规定截止波长、评定长度和滤波器类型,因为 Ra 取决于它们。对软质材料保持较小触针力并检查划痕。光学系统需要清洁物镜,并定期用网格标准器进行横向校准。

关于表面轮廓仪的常见问题

触针式轮廓仪用金刚石针尖物理描迹一条线并给出可溯源的二维轮廓,而光学轮廓仪通过干涉或共聚焦技术无接触地测绘一个区域。触针式适合机加工件,光学式适合精细表面或面形分析。

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