

能量色散 X 射线荧光光谱仪
Energy-Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer
- SKU XRF-0001
- X 射线荧光光谱仪
- CE (to be confirmed)
- Radiation safety enclosure (to be confirmed)
- ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价
价格取决于配置、数量与目的港。
主要技术参数
| 元素范围 | Na to U (Mg to U in air) |
|---|---|
| 检出限 | 1–100 mg/kg typical |
| X 射线管功率 | 10–50 W |
| 检测器 | silicon drift detector |
| 测量时间 | 30–300 s |
| 样品类型 | solids, powders, liquids, films |
作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:ASTM E1621 Wavelength dispersive X-ray fluorescence, ASTM D4294 Sulfur in petroleum products by EDXRF, ISO 3497 Metallic coatings — X-ray spectrometric thickness
什么是能量色散 X 射线荧光光谱仪?
能量色散 X 射线荧光光谱仪用半导体检测器直接测量光子能量并一次记录整个光谱。它是常规多元素筛查和质量控制中快速紧凑的主力。
什么是能量色散 X 射线荧光光谱仪?能量色散 X 射线荧光光谱仪用半导体检测器直接测量光子能量并一次记录整个光谱。它是常规多元素筛查和质量控制中快速紧凑的主力。## 概述
低功率 X 射线管激发样品,荧光进入硅漂移检测器测量每个光子的能量。多道分析器构建光谱,其中峰位鉴定元素,峰面积给出浓度。一次收集整个光谱使测量快速,通常 30 至 300 秒,且无运动分光晶体,仪器紧凑坚固。可插入二次靶或滤光片以塑造激发光谱并降低背景。轻元素需要真空或氦气吹扫,基体效应用基本参数或经验校准校正。能量色散 XRF 广泛用于合金鉴定、RoHS 筛查、水泥和矿物、环境样品以及速度和灵活性比最低检出限更重要的质量检查。## 工作原理是什么?来自 X 射线管或放射性同位素源的初级 X 射线束击出样品原子的内层电子。较高壳层的电子落入空位并发射 X 射线光子,其能量等于两能级之差,对每种元素是独特的。每条特征谱线的强度与该元素含量成正比,因此用参考物质校准可得浓度。能量色散仪器使用硅漂移等半导体检测器直接测量光子能量并一次记录整个光谱。波长色散仪器用分光晶体将特定波长衍射到检测器,提供更好分辨率和对轻元素更低的检出限。吸收和二次激发引起的基体效应通过基本参数法或经验影响系数校正,样品形态与校准标准品匹配。## 主要特点有哪些?- 硅漂移检测器配多道分析器 - 同时采集完整光谱 - 测量时间 30 至 300 秒 - 二次靶和滤光片降低背景 - 轻元素用真空或氦气吹扫 - 紧凑台式设计,运动部件少
技术参数有哪些?典型的能量色散 X 射线荧光光谱仪配置:元素范围为 Na to U (Mg to U in air);检出限为 1–100 mg/kg typical;X 射线管功率为 10–50 W;检测器为 silicon drift detector;测量时间为 30–300 s;样品类型为 solids, powders, liquids, films。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?能量色散 X 射线荧光光谱仪主要用于合金和材料鉴定、RoHS 和限用物质筛查、水泥、玻璃和陶瓷分析、环境和地质样品。在更广泛的 X 射线荧光光谱仪类别中,实验室还将其用于合金、陶瓷和玻璃的元素分析、RoHS 和限用物质筛查、涂层厚度和薄膜成分。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 ASTM E1621 Wavelength dispersive X-ray fluorescence、ASTM D4294 Sulfur in petroleum products by EDXRF、ISO 3497 Metallic coatings—X-ray spectrometric thickness、IEC 62321 Determination of restricted substances in electrotechnical products、US EPA Method 6200 Field portable XRF for soil、ISO 13196 Soil quality—Screening of selected elements by EDXRF、IEC 61010-2-091、ISO/IEC 17025。本型号的认证候选包括 CE、Radiation safety enclosure、ISO 9001 manufacturing;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。XRF 仪器是受监管的辐射装置,因此安装需要屏蔽、联锁、辐射巡测和受训操作者,便携式设备还需安全作业程序。样品前处理强烈影响准确度:表面污染、厚度不足和颗粒尺寸效应会使结果偏差,粉末最好压片或熔融。校准必须与样品基体匹配,并用核查标准品监控漂移。轻元素的真空或氦气系统需要洁净密封和气源。检测器窗口和 X 射线管是寿命有限的磨损件。保存管使用时间、校准和检查记录,并按辐射法规处置 X 射线部件。## 如何选择合适的能量色散 X 射线荧光光谱仪?当低 ppm 范围的检出限足够时,选择能量色散 XRF 进行快速灵活的多元素筛查。请说明元素范围、样品类型和所需通量。若需要轻元素,增加真空或氦气吹扫,并确认有匹配基体的校准标准品。### 与其他 X 射线荧光光谱仪型号相比如何?应根据元素范围、检出限和样品类型选择 XRF 配置。能量色散仪器紧凑快速,适合常规筛查和多元素分析,分辨率中等。波长色散仪器成本更高、速度较慢,但在轻元素、精确主氧化物分析和低检出限方面表现出色。全反射仪器在小样品斑点上达到超痕量水平,服务于半导体、水和生物分析。偏振能量色散仪器降低背景用于痕量工作,而无需波长色散光学的成本。微区 XRF 为包裹体、涂层和法医样品增加空间分辨率。选择前考虑样品尺寸、轻元素是否需要真空或氦气吹扫、自动化程度以及实验室必须遵循的法规方法。
完整技术参数
| 元素范围 | Na to U (Mg to U in air) |
|---|---|
| 检出限 | 1–100 mg/kg typical |
| X 射线管功率 | 10–50 W |
| 检测器 | silicon drift detector |
| 测量时间 | 30–300 s |
| 样品类型 | solids, powders, liquids, films |
| 测量气氛 | air, vacuum or helium |
| 斑点尺寸 | 1–10 mm |
| 自动进样器 | optional 10 to 20 positions |
| 通信接口 | Ethernet / USB |
以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。
应用领域
- 合金和材料鉴定
- RoHS 和限用物质筛查
- 水泥、玻璃和陶瓷分析
- 环境和地质样品
主要特点
- 硅漂移检测器配多道分析器
- 同时采集完整光谱
- 测量时间 30 至 300 秒
- 二次靶和滤光片降低背景
- 轻元素用真空或氦气吹扫
- 紧凑台式设计,运动部件少
关于能量色散 X 射线荧光光谱仪的常见问题
典型测量时间为快速筛查扫描的 30 秒到更好精度和更低检出限的约五分钟。更长计数时间因收集更多光子而改善统计。质量控制方法在时间与所需精密度之间平衡。
二次靶是被初级 X 射线束激发并再发射荧光的板,随后照射样品。这产生更具选择性的激发光谱和偏振辐射,降低分析物峰下的背景,改善痕量元素的检出限。
使用基体匹配标准品和适当校正模型时可以准确,主量元素的相对误差可达百分之几。与波长色散系统相比,峰重叠和检测器分辨率限制了轻元素和痕量性能,因此该技术常用于筛查或基体明确的样品。
EDXRF 用半导体检测器直接测量光子能量并同时记录整个光谱,速度快且设计紧凑。WDXRF 用分光晶体衍射选定波长,提供更高分辨率、更好的轻元素性能和更低检出限,但成本和测量时间更高。
样品必须足够厚,使初级束在其内被完全吸收且深层荧光不改变结果,这一条件称为无限厚度。该厚度取决于元素和基体,从轻基体中重元素的微米级到轻元素的毫米级不等,并在方法开发中验证。
元素谱线强度不仅取决于其浓度,还取决于其他元素对初级和荧光 X 射线的吸收以及二次激发。这些基体效应可使强度变化很大,因此准确分析需要基体匹配标准品或基于基本参数或影响系数的校正模型。




