

三目金相显微镜
Trinocular Metallurgical Microscope
- SKU MEM-0002
- 金相显微镜
- CE (to be confirmed)
- ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价
价格取决于配置、数量与目的港。
主要技术参数
| 光学系统 | Infinite corrected |
|---|---|
| 放大范围 | 50×–1000× |
| 物镜 | 5×, 10×, 20×, 50×, 100× plan |
| 照明 | Reflected, LED or halogen |
| 相机接口 | C-mount trinocular |
| 分光比例 | 100/0 or 80/20 selectable |
作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:ASTM E3, ASTM E407, ASTM E112
什么是三目金相显微镜?
三目金相显微镜在反射光显微镜基础上增加专用相机接口。在需要在进行目视检查的同时采集、测量和记录图像的金相工作中选用。
什么是三目金相显微镜?三目金相显微镜在反射光显微镜基础上增加专用相机接口。在需要在进行目视检查的同时采集、测量和记录图像的金相工作中选用。## 概述
三目金相显微镜将来自样品的反射光经分光镜按选定比例导向目镜、相机接口或二者。相机采集图像用于测量、晶粒尺寸分析、缺陷记录和报告,而操作者可继续目视检查。C 接口转接件使相机传感器与光学像匹配。提供反射明场,常还有暗场或偏光模式,平场物镜提供适合成像的平整视场。当成像数字记录和图像分析属于金相工作流程(如质量控制和失效调查)的一部分时,这是实用选择。## 工作原理是什么?金相显微镜从与物镜相同的一侧照明样品,因此光从表面反射并沿物镜返回目镜或相机。由于样品不透明,不使用透射照明。反射明场通过反射率差异显示相和组织。暗场采用斜向照明以揭示划痕、边缘和细颗粒。偏光和微分干涉相衬增加关于各向异性和表面起伏的信息。样品通常镶嵌在树脂中,经研磨抛光,并常经侵蚀以显示晶界。物镜数值孔径、照明类型和表面制备决定可分辨的内容。## 主要特点有哪些?- 反射光光学件并配专用相机接口 - 可分光比例的分光镜 - C 接口转接件适配科研相机 - 图像分析软件用于测量 - 平场物镜提供平整成像视场
技术参数有哪些?典型的三目金相显微镜配置:光学系统为 Infinite corrected;放大范围为 50×–1000×;物镜为 5×, 10×, 20×, 50×, 100× plan;照明为 Reflected, LED or halogen;相机接口为 C-mount trinocular;分光比例为 100/0 or 80/20 selectable。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?三目金相显微镜主要用于质量控制金相和报告、晶粒尺寸和相测量、缺陷记录和失效报告、材料研究成像。在更广泛的金相显微镜类别中,实验室还将其用于金属和合金晶粒结构分析、焊接和热处理评估、失效分析和缺陷调查。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 ASTM E3、ASTM E407、ASTM E112、ISO 643、IEC 61010-1。本型号的认证候选包括 CE、ISO 9001 manufacturing;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。样品制备决定图像质量,因此应遵循一致的研磨和抛光程序,并按相关标准侵蚀。保持物镜和样品表面无灰尘、油污和残留,避免划伤镀层。不使用时遮盖样品以防氧化和污染。核查照明对准,偏光工作时使用无应力物镜和对中偏光镜。用测微尺为每个物镜校准测量并记录标度。定期维护载物台和调焦机构,并按规定计划核查灯或二极管输出。## 如何选择合适的三目金相显微镜?当成像属于常规金相工作的一部分时选择三目金相显微镜。确认相机接口类型和分光比例,并且相机、转接件和软件支持所需分辨率、测量校准和记录。确保物镜为平场校正以适应成像,并且反差模式与需记录的结构匹配。### 与其他金相显微镜型号相比如何?当样品为不透明、反光并以反射光观察时选择金相显微镜。确定所需反差方法:明场用于总体组织,暗场用于缺陷和细特征,偏光或微分干涉相衬用于各向异性和起伏。确认载物台能承载样品形式,包括镶嵌样品、大型零件或晶圆。小型镶嵌样品选正置型号,较大样品选倒置型号。选择平场物镜以获得平整视场,并配适合测量和记录的相机。需要进行晶粒尺寸或相测量时,应确认具备测量软件和校准。
完整技术参数
| 光学系统 | Infinite corrected |
|---|---|
| 放大范围 | 50×–1000× |
| 物镜 | 5×, 10×, 20×, 50×, 100× plan |
| 照明 | Reflected, LED or halogen |
| 相机接口 | C-mount trinocular |
| 分光比例 | 100/0 or 80/20 selectable |
| 载物台 | Mechanical, 180 × 150 mm |
| 反差模式 | Brightfield and polarized |
| 目镜 | 10× widefield |
| 供电 | 100–240 V AC |
以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。
应用领域
- 质量控制金相和报告
- 晶粒尺寸和相测量
- 缺陷记录和失效报告
- 材料研究成像
主要特点
- 反射光光学件并配专用相机接口
- 可分光比例的分光镜
- C 接口转接件适配科研相机
- 图像分析软件用于测量
- 平场物镜提供平整成像视场
关于三目金相显微镜的常见问题
分辨率良好且噪声低的科研彩色或黑白相机适合金相分析。黑白相机灵敏度更高,适合灰阶结构和测量;彩色相机有助于彩色侵蚀和涂层观察。C 接口转接件必须与传感器尺寸匹配。
对每个物镜和相机设置成像测微尺,用已知距离在软件中设定每单位像素标度。标度随物镜存储并重复使用,凡相机、转接件或物镜更换时都应重新校准。
会。当光在目镜与相机之间分配时,相机接收的光减少,可能需要更长曝光或更高增益,同时目视图像变暗。应选择既能提供足够相机曝光且噪声不过大、又能保证目视亮度的比例。
金属、合金和许多陶瓷不透明,光无法透过。金相显微镜因此通过物镜照明抛光表面并收集反射光。透明岩相样品则用透射偏光方式观察。
样品通常经切割、树脂镶嵌、研磨和抛光至镜面,然后侵蚀以显示晶界和相。制备步骤遵循 ASTM E3 和 ASTM E407 等标准。制备不当会引入划痕和伪影,可能被误认为真实特征。
暗场突出斜向反射或散射光的边缘、划痕、夹杂物和细颗粒。它提高抛光表面缺陷的可见性,有助于发现明场可能遗漏的细小特征,但不用于总体结构评估。
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