

正置金相显微镜
Upright Metallurgical Microscope
- SKU MEM-0001
- 金相显微镜
- CE (to be confirmed)
- ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价
价格取决于配置、数量与目的港。
主要技术参数
| 光学系统 | Infinite corrected |
|---|---|
| 放大范围 | 50×–1000× |
| 物镜 | 5×, 10×, 20×, 50×, 100× plan |
| 照明 | Reflected, 12 V 50 W halogen or LED |
| 反差模式 | Brightfield and polarized |
| 载物台 | Mechanical, 180 × 150 mm |
作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:ASTM E3, ASTM E407, ASTM E112
什么是正置金相显微镜?
正置金相显微镜从上方以反射光观察镶嵌样品。它是材料实验室中制备好的金相样品、涂层和小型零件的标准配置。
什么是正置金相显微镜?正置金相显微镜从上方以反射光观察镶嵌样品。它是材料实验室中制备好的金相样品、涂层和小型零件的标准配置。## 概述
正置金相显微镜将物镜置于载物台上方,并通过物镜照明样品,因此在其上方向上的抛光表面以反射光观察。样品通常是尺寸适中的镶嵌、研磨抛光样品,置于载物台上。反射明场显示相和晶粒结构,检偏镜和起偏镜可增加偏光观察。带视场光阑和孔径光阑的垂直照明器可控制照明以实现柯勒对准。平场物镜为测量和摄影提供平整视场,三目观察头可接相机。该配置紧凑、刚性,适合常规金相分析。## 工作原理是什么?金相显微镜从与物镜相同的一侧照明样品,因此光从表面反射并沿物镜返回目镜或相机。由于样品不透明,不使用透射照明。反射明场通过反射率差异显示相和组织。暗场采用斜向照明以揭示划痕、边缘和细颗粒。偏光和微分干涉相衬增加关于各向异性和表面起伏的信息。样品通常镶嵌在树脂中,经研磨抛光,并常经侵蚀以显示晶界。物镜数值孔径、照明类型和表面制备决定可分辨的内容。## 主要特点有哪些?- 物镜位于载物台上方用于反射光 - 带视场光阑和孔径光阑的垂直照明器 - 起偏镜和检偏镜用于偏光观察 - 平场物镜提供平整视场 - 三目观察头可接相机
技术参数有哪些?典型的正置金相显微镜配置:光学系统为 Infinite corrected;放大范围为 50×–1000×;物镜为 5×, 10×, 20×, 50×, 100× plan;照明为 Reflected, 12 V 50 W halogen or LED;反差模式为 Brightfield and polarized;载物台为 Mechanical, 180 × 150 mm。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?正置金相显微镜主要用于金属和合金显微组织分析、热处理和焊接评估、涂层厚度和完整性检查、零件失效分析。在更广泛的金相显微镜类别中,实验室还将其用于金属和合金晶粒结构分析、焊接和热处理评估、失效分析和缺陷调查。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 ASTM E3、ASTM E407、ASTM E112、ISO 643、IEC 61010-1。本型号的认证候选包括 CE、ISO 9001 manufacturing;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。样品制备决定图像质量,因此应遵循一致的研磨和抛光程序,并按相关标准侵蚀。保持物镜和样品表面无灰尘、油污和残留,避免划伤镀层。不使用时遮盖样品以防氧化和污染。核查照明对准,偏光工作时使用无应力物镜和对中偏光镜。用测微尺为每个物镜校准测量并记录标度。定期维护载物台和调焦机构,并按规定计划核查灯或二极管输出。## 如何选择合适的正置金相显微镜?当样品为尺寸适中的制备镶嵌样品时选择正置金相显微镜。确认反差模式覆盖所需评估,并且可获得用于测量和成像的平场物镜。检查载物台尺寸是否适合样品,并确认照明适合材料的反射率。若需检查各向异性相,应增加偏光光学件。### 与其他金相显微镜型号相比如何?当样品为不透明、反光并以反射光观察时选择金相显微镜。确定所需反差方法:明场用于总体组织,暗场用于缺陷和细特征,偏光或微分干涉相衬用于各向异性和起伏。确认载物台能承载样品形式,包括镶嵌样品、大型零件或晶圆。小型镶嵌样品选正置型号,较大样品选倒置型号。选择平场物镜以获得平整视场,并配适合测量和记录的相机。需要进行晶粒尺寸或相测量时,应确认具备测量软件和校准。
完整技术参数
| 光学系统 | Infinite corrected |
|---|---|
| 放大范围 | 50×–1000× |
| 物镜 | 5×, 10×, 20×, 50×, 100× plan |
| 照明 | Reflected, 12 V 50 W halogen or LED |
| 反差模式 | Brightfield and polarized |
| 载物台 | Mechanical, 180 × 150 mm |
| 目镜 | 10× widefield |
| 相机接口 | C-mount trinocular |
| 调焦 | Coarse and fine |
| 供电 | 100–240 V AC |
以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。
应用领域
- 金属和合金显微组织分析
- 热处理和焊接评估
- 涂层厚度和完整性检查
- 零件失效分析
主要特点
- 物镜位于载物台上方用于反射光
- 带视场光阑和孔径光阑的垂直照明器
- 起偏镜和检偏镜用于偏光观察
- 平场物镜提供平整视场
- 三目观察头可接相机
关于正置金相显微镜的常见问题
几厘米见方的镶嵌样品可舒适地放在机械载物台上。更大的零件可能需要倒置配置或专用大载物台仪器。购买前应将载物台尺寸和行程与实际样品对照核查。
在照明光路中放置起偏镜产生平面偏振光,在观察光路中放置检偏镜(通常正交),使各向异性相在暗背景上显得明亮。无应力物镜可避免产生虚假偏光效应。
重要。正确的视场光阑和孔径光阑设置提供均匀照明并控制分辨率和反差,从而改善图像质量和测量重复性。应按制造商程序为每个物镜调整垂直照明器。
金属、合金和许多陶瓷不透明,光无法透过。金相显微镜因此通过物镜照明抛光表面并收集反射光。透明岩相样品则用透射偏光方式观察。
样品通常经切割、树脂镶嵌、研磨和抛光至镜面,然后侵蚀以显示晶界和相。制备步骤遵循 ASTM E3 和 ASTM E407 等标准。制备不当会引入划痕和伪影,可能被误认为真实特征。
暗场突出斜向反射或散射光的边缘、划痕、夹杂物和细颗粒。它提高抛光表面缺陷的可见性,有助于发现明场可能遗漏的细小特征,但不用于总体结构评估。
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