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Benchtop XRF
BEX · X 射线分析仪器 · 6 个型号
作者：Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准：ASTM E1621 Wavelength dispersive X-ray fluorescence, IEC 62321 Determination of restricted substances in electrotechnical products, ISO 3497 Metallic coatings — X-ray spectrometric thickness
台式 XRF 光谱仪是紧凑、封闭的实验室仪器，用于元素分析，占地小于落地式系统。它们处理固体、粉末、液体和薄膜，服务于质量控制、筛查和材料检测。
6 个型号 · 台式 X 射线荧光光谱仪
以下 6 个型号为当前配置，具体参数以报价单为准。
Benchtop Energy-Dispersive XRF Spectrometer
台式能量色散 XRF 光谱仪记录完整 X 射线光谱以进行快速多元素分析。它是合金核验、材料筛查和常规质量控制的标准紧凑仪器。
Benchtop Wavelength-Dispersive XRF Spectrometer
台式波长色散 XRF 光谱仪用分光晶体获得更高分辨率和更低检出限。它以紧凑占地提供实验室级的轻元素和痕量分析。
Benchtop XRF Spectrometer for RoHS Screening
该台式 XRF 光谱仪针对 RoHS 和限用物质筛查配置。它适合检测元件、塑料和成品合规性的实验室和制造商。
Benchtop Micro-XRF Spectrometer
台式微区 XRF 光谱仪将束聚焦到小斑点进行空间分辨元素成像。它适合在紧凑仪器中分析小特征、包裹体、涂层和污染。
Benchtop XRF Spectrometer with Vacuum and Helium Purge
该台式 XRF 光谱仪增加真空和氦气吹扫以测量轻元素。当必须在矿物、玻璃、金属或催化剂中定量钠、镁和铝时，选择该仪器。
Benchtop Polarized XRF Spectrometer
台式偏振 XRF 光谱仪利用偏振激发降低散射背景。它适合在紧凑实验室仪器中对环境、地质和工业样品进行痕量元素分析。
| 型号 | 元素范围 | 检出限 | X 射线管功率 | 检测器 | 测量时间 |
|---|---|---|---|---|---|
| 台式能量色散 XRF 光谱仪BEX-0001 | Na to U (Mg to U in air) | 1–100 mg/kg typical | 10–50 W | silicon drift detector | 30–300 s |
| 台式波长色散 XRF 光谱仪BEX-0002 | Na or Mg to U | 0.5–20 mg/kg typical | 50–200 W | proportional or scintillation | 1–10 min per sample |
| RoHS 筛查台式 XRF 光谱仪BEX-0003 | Mg to U plus bromine | 5–100 mg/kg typical | — | silicon drift detector | 30–300 s |
| 台式微区 XRF 光谱仪BEX-0004 | Na to U | 10–1000 mg/kg typical | 30–100 W | silicon drift detector | — |
| 带真空和氦气吹扫的台式 XRF 光谱仪BEX-0005 | Na to U (with vacuum or helium) | 5–100 mg/kg for light elements | 10–50 W | silicon drift detector with thin window | 60–300 s |
| 台式偏振 XRF 光谱仪BEX-0006 | Na to U | 0.1–10 mg/kg typical | 100–400 W | silicon drift detector | 300–1800 s |
以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。
样品和初级束完全封闭，联锁防止开盖运行，因此正常使用时不泄漏可测量的辐射。部分仪器在快门短暂打开或维修禁用时会发出少量辐射。当地法规要求时进行辐射巡测和剂量监测。
台式外壳通常接受从几毫米到约 100 至 300 毫米的样品，取决于型号。较大部件必须切割或用便携式分析仪测量。粉末杯、压片和薄膜是台式系统最常见的样品形式。
可以，液体在带薄膜窗口的样品杯中测量，挥发性或反应性液体需要专用样品杯和通气。液体中的轻元素因吸收和蒸发而难以测量。部分基体在消解后或作为载体上的干燥残留测量效果更好。
在运行期间和运行之间按既定间隔测量核查标准品或参考样品，并将其结果与控制限比较。若漂移超限，仪器重新校准或更新灵敏度因子。温度稳定性、管状态和检测器性能都会影响漂移。
