

台式微区 XRF 光谱仪
Benchtop Micro-XRF Spectrometer
- SKU BEX-0004
- 台式 X 射线荧光光谱仪
- CE (to be confirmed)
- Radiation safety enclosure (to be confirmed)
- ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价
价格取决于配置、数量与目的港。
主要技术参数
| 斑点尺寸 | 10–100 µm |
|---|---|
| 元素范围 | Na to U |
| 检出限 | 10–1000 mg/kg typical |
| 台行程 | up to 100 × 100 mm |
| 台分辨率 | 1 µm |
| X 射线管功率 | 30–100 W |
作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:ASTM E1621 Wavelength dispersive X-ray fluorescence, IEC 62321 Determination of restricted substances in electrotechnical products, ISO 3497 Metallic coatings — X-ray spectrometric thickness
什么是台式微区 XRF 光谱仪?
台式微区 XRF 光谱仪将束聚焦到小斑点进行空间分辨元素成像。它适合在紧凑仪器中分析小特征、包裹体、涂层和污染。
什么是台式微区 XRF 光谱仪?台式微区 XRF 光谱仪将束聚焦到小斑点进行空间分辨元素成像。它适合在紧凑仪器中分析小特征、包裹体、涂层和污染。## 概述
多毛细管光学将管发射的 X 射线集中到约 10 至 100 微米的斑点,电动台移动样品以构建分布图和线扫描。这使微区分析能力进入台式占地,无需同步辐射或电子显微镜。它用于检查矿物中的包裹体、颗粒和污染、焊点和电子器件、涂层以及文化遗产物体,且不损伤样品。由于束被集中,每个元素的灵敏度低于大斑点 XRF,因此测量时间更长。真空或氦气吹扫改善轻元素检测,台的重现性决定图像准确度。当需要元素身份时,该分析是光学或电子显微镜的天然补充。## 工作原理是什么?中等功率的 X 射线管在屏蔽外壳内激发样品,检测器测量所存在元素发射的特征 X 射线。能量色散台式型号使用硅漂移检测器并同时记录完整光谱,测量快速且设计紧凑。波长色散台式型号使用分光晶体,成本更高但分辨率和检出限更好。真空或氦气吹扫将元素范围向钠延伸,滤光片或二次靶降低背景。结果用基本参数或与样品基体匹配的经验校准处理。封闭几何和联锁确保正常运行时不泄漏可测量的辐射,自动进样器支持无人值守序列。## 主要特点有哪些?- 带 10 至 100 µm 斑点的多毛细管光学 - 用于成像和线扫描的电动台 - 小特征的无损分析 - 包裹体、颗粒和涂层分析 - 轻元素用真空或氦气吹扫 - 光学和电子显微镜的补充
技术参数有哪些?典型的台式微区 XRF 光谱仪配置:斑点尺寸为 10–100 µm;元素范围为 Na to U;检出限为 10–1000 mg/kg typical;台行程为 up to 100 × 100 mm;台分辨率为 1 µm;X 射线管功率为 30–100 W。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?台式微区 XRF 光谱仪主要用于矿物包裹体和地质物相、涂层、焊点和电子器件分析、污染颗粒和失效分析、文化遗产和考古物体。在更广泛的台式 X 射线荧光光谱仪类别中,实验室还将其用于合金和来料核验、RoHS 和限用物质筛查、水泥、玻璃和陶瓷分析。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 ASTM E1621 Wavelength dispersive X-ray fluorescence、IEC 62321 Determination of restricted substances in electrotechnical products、ISO 3497 Metallic coatings—X-ray spectrometric thickness、ASTM D4294 Sulfur in petroleum products by EDXRF、IEC 61010-2-091、ISO/IEC 17025。本型号的认证候选包括 CE、Radiation safety enclosure、ISO 9001 manufacturing;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。封闭式台式仪器是辐射装置,因此安装需要正确屏蔽、功能联锁、辐射巡测和操作者培训。样品尺寸和厚度必须适合外壳和分析要求,粉末最好压片以获得重现性。基体匹配校准对准确度必不可少,并用核查标准品监控漂移。真空泵、滤光片和 X 射线管是消耗和磨损件。避免在无支撑的开口杯中测量液体,并在软件建议处使用旋转器或掩膜。保存服务和校准记录,并按辐射法规处置管和检测器。## 如何选择合适的台式微区 XRF 光谱仪?当需要小特征的元素分布图且样品必须保持完整,但没有同步辐射或电子显微镜时,选择台式微区 XRF。请说明斑点尺寸、成像面积和元素范围。确认台的重现性以及轻元素是否需要真空或氦气。### 与其他台式 X 射线荧光光谱仪型号相比如何?应根据元素范围、所需检出限和样品类型选择台式 XRF 配置。能量色散型号最常见且性价比高,适合筛查、合金和材料核验以及多元素定量。波长色散台式型号在空间和预算允许时适合轻元素和更精确的分析。轻元素增加真空或氦气吹扫,并针对 RoHS、水泥、聚合物或催化剂选择应用校准。微区 XRF 版本为小特征和涂层增加空间分辨率。考虑外壳内的样品尺寸限制、样品位数量、数据导出和法规方法。订购前确认是否需要专用校准或参考物质套件。
完整技术参数
| 斑点尺寸 | 10–100 µm |
|---|---|
| 元素范围 | Na to U |
| 检出限 | 10–1000 mg/kg typical |
| 台行程 | up to 100 × 100 mm |
| 台分辨率 | 1 µm |
| X 射线管功率 | 30–100 W |
| 检测器 | silicon drift detector |
| 成像方式 | point, line and area maps |
| 外壳 | shielded with interlocks |
| 通信接口 | Ethernet |
以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。
应用领域
- 矿物包裹体和地质物相
- 涂层、焊点和电子器件分析
- 污染颗粒和失效分析
- 文化遗产和考古物体
主要特点
- 带 10 至 100 µm 斑点的多毛细管光学
- 用于成像和线扫描的电动台
- 小特征的无损分析
- 包裹体、颗粒和涂层分析
- 轻元素用真空或氦气吹扫
- 光学和电子显微镜的补充
关于台式微区 XRF 光谱仪的常见问题
微区 XRF 空间分辨率较低,但可在空气中工作、无需导电镀层且穿透更深,适合绝缘、含水和层状样品。SEM-EDS 在真空下可分辨更细特征。许多实验室同时使用两者,按所需分辨率、样品状态和关注深度选择。
可以,只要包裹体大于束斑且能在台上定位。较小包裹体只能部分测量,结果受周围基体影响。横跨包裹体的线扫描和分布图有助于解释数据并确认其边界。
将束集中到小斑点减少到达样品的光子总通量,而成像还需将测量分配到许多像素。因此每个点需要更长驻留时间以收集足够计数获得可靠结果,增加总测量时间。
样品和初级束完全封闭,联锁防止开盖运行,因此正常使用时不泄漏可测量的辐射。部分仪器在快门短暂打开或维修禁用时会发出少量辐射。当地法规要求时进行辐射巡测和剂量监测。
台式外壳通常接受从几毫米到约 100 至 300 毫米的样品,取决于型号。较大部件必须切割或用便携式分析仪测量。粉末杯、压片和薄膜是台式系统最常见的样品形式。
可以,液体在带薄膜窗口的样品杯中测量,挥发性或反应性液体需要专用样品杯和通气。液体中的轻元素因吸收和蒸发而难以测量。部分基体在消解后或作为载体上的干燥残留测量效果更好。
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