矿物 X 射线衍射分析仪
X-ray Diffraction Analyzer for Minerals
- MIA-0001
- 矿物分析仪器
- CE (to be confirmed)
- ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
- 2θ 范围:
- 3–160°
- 角度准确度:
- ± 0.01°
- X 射线管:
- Cu anode, 1–3 kW
- 探测器:
- Silicon strip or solid state
- 最短扫描时间:
- 5–15 min per pattern
- 物相检出限:
- About 0.5–1 % with careful preparation
矿物 X 射线衍射分析仪通过测量衍射角和峰强度鉴定并定量矿石及工艺样品中的结晶物相,可检出次要物相并支持 Rietveld 定量。





