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塑料元素分析用 X 射线荧光光谱仪 — 产品图片

塑料元素分析用 X 射线荧光光谱仪

X-Ray Fluorescence Analyzer for Plastic Elemental Analysis

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价格取决于配置、数量与目的港。

主要技术参数

主要技术参数
元素范围Na to U (light elements in vacuum)
检测器Silicon drift detector, 25–50 mm²
能量分辨率About 130–150 eV at Mn Kα
管电压Up to 50 kV
测量光斑1–10 mm selectable
检出限1–50 ppm depending on element
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作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:ISO 3451-1, ASTM D5630, ASTM D1603

什么是塑料元素分析用 X 射线荧光光谱仪?

X 射线荧光光谱仪激发塑料样品并记录特征元素辐射,可快速无损地筛查元素。用于受限物质检查,以及溴、锌、钛等填料和助剂元素的核验。

什么是塑料元素分析用 X 射线荧光光谱仪?X 射线荧光光谱仪激发塑料样品并记录特征元素辐射,可快速无损地筛查元素。用于受限物质检查,以及溴、锌、钛等填料和助剂元素的核验。## 概述

X 射线管照射样品,各元素发出具有特征波长或能量的荧光,由硅漂移检测器记录,软件用校准曲线换算为浓度。能量色散型仪器紧凑快速,可直接测量小件整体;波长色散型分辨率更好,对较重元素的检出限更低。测量通常在空气、氦气或真空中进行,有效取样深度从轻元素的几十微米到重元素的毫米级不等,因此表层可能主导结果。塑料制件常筛查铅、镉、汞、铬和溴,含钙、镁、硅、钛的填料也可通过元素组合特征快速识别。## 工作原理是什么?不同问题依赖不同的物理原理。灼烧和燃烧法在空气或氧气中加热以除去有机基体,留下的无机填料或灰分经称量即可定量矿物含量和玻璃纤维。炭黑则先在氮气中热解聚合物,再在氧气中燃烧碳。红外光谱用于鉴别聚合物,并可检出氧化或助剂引起的官能团变化。X 射线荧光以 X 射线激发样品并记录发射的特征辐射,可快速筛查受限物质。裂解气相色谱质谱联用则在惰性气氛中热裂解聚合物并分离碎片,可鉴别仅靠光谱无法确定的共聚物、增塑剂和助剂。## 主要特点有哪些?- X 射线管配铑或钨阳极 - 硅漂移检测器实现快速分析 - 可在空气、氦气或真空下测量 - 预置受限物质分析方法 - 支持基本参数法或经验校准 - 可对整件样品免制样测量

技术参数有哪些?典型的塑料元素分析用 X 射线荧光光谱仪配置:元素范围为 Na to U (light elements in vacuum);检测器为 Silicon drift detector, 25–50 mm²;能量分辨率为 About 130–150 eV at Mn Kα;管电压为 Up to 50 kV;测量光斑为 1–10 mm selectable;检出限为 1–50 ppm depending on element。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?塑料元素分析用 X 射线荧光光谱仪主要用于塑料制件受限物质筛查、填料元素识别与核验、溴系阻燃剂检查、再生塑料污染物筛查。在更广泛的塑料组成分析仪类别中,实验室还将其用于填料和玻璃纤维含量测定、管材与电缆料炭黑含量、进料检验中的聚合物鉴别。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 ISO 3451-1、ASTM D5630、ASTM D1603、ASTM E1131、ASTM D5576、ASTM D3452、ASTM F2617、IEC 61010-1。本型号的认证候选包括 CE、ISO 9001 manufacturing;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。取样的代表性比仪器精度更重要,因为填料和助剂很少分布完全均匀。应研磨或冷冻研磨试样,或从不同位置取多份样品,并记录取样方案。灼烧温度和时间必须严格控制,因为矿物填料在高温下可能失重、玻璃纤维可能发生烧结。坩埚应保持清洁并做空白。使用 X 射线荧光时,应核对测量区域与样品尺寸是否匹配,并确认结果是否仅反映表层。所有设备均应用有证标准物质校准,原始数据应与报告一并保存。## 如何选择合适的塑料元素分析用 X 射线荧光光谱仪?当需要对大量样品或整件制品做快速元素筛查,且关注的是元素而非有机助剂时,应选择 X 射线荧光。应依据规范阈值确认元素范围和检出限,并注意高于限值的筛查结果在作出合规判定前必须用实验室参比方法确认。### 与其他塑料组成分析仪型号相比如何?应根据测试问题和样品数量选择方法。填料或玻璃纤维含量用马弗炉灼烧法或热重法测定,炭黑用带受控气氛的专用管式炉测定。聚合物鉴别以红外最快;元素合规筛查以 X 射线荧光最快,且可对整件样品直接测量而无需制样。裂解气相色谱质谱联用适用于必须确定聚合物或助剂种类而非快速定量的场合,例如竞品分析或污染调查。若问题涉及表面或单颗粒,如填料分散性、单一颗粒组成,则需增加带元素分析的显微手段。

完整技术参数

完整技术参数
元素范围Na to U (light elements in vacuum)
检测器Silicon drift detector, 25–50 mm²
能量分辨率About 130–150 eV at Mn Kα
管电压Up to 50 kV
测量光斑1–10 mm selectable
检出限1–50 ppm depending on element
测量时间60–300 s per sample
测量气氛Air, helium or vacuum
电源220 V, 50/60 Hz

以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。

应用领域

  • 塑料制件受限物质筛查
  • 填料元素识别与核验
  • 溴系阻燃剂检查
  • 再生塑料污染物筛查

主要特点

  • X 射线管配铑或钨阳极
  • 硅漂移检测器实现快速分析
  • 可在空气、氦气或真空下测量
  • 预置受限物质分析方法
  • 支持基本参数法或经验校准
  • 可对整件样品免制样测量

关于塑料元素分析用 X 射线荧光光谱仪的常见问题

深度取决于元素种类和塑料基体,轻元素约几十微米,铅等重元素可达数毫米。因此涂层、镀层或表面富集的助剂层可能主导结果,分层制件应分别测量。

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