

色散光栅近红外分光光度计
Dispersive Grating NIR Spectrophotometer
- SKU NIR-0002
- 近红外光谱仪
- CE (to be confirmed)
- ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
- IP65 enclosure option (to be confirmed)
价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价
价格取决于配置、数量与目的港。
主要技术参数
| 波长范围 | 900–1700 nm or 1100–2500 nm |
|---|---|
| 检测器 | linear InGaAs photodiode array |
| 光谱分辨率 | 5–10 nm |
| 波长准确度 | ±1 nm |
| 积分时间 | 1–100 ms |
| 光源 | tungsten halogen, 20 W |
作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:Ph. Eur. 2.2.40 Near-infrared spectrophotometry, USP <1119> Near-Infrared Spectroscopy, ASTM E1655 Standard Practices for Infrared Multivariate Quantitative Analysis
什么是色散光栅近红外分光光度计?
色散光栅近红外分光光度计使用固定光栅和检测器阵列,快速采集近红外光谱且无运动部件。它适合紧凑、快速、坚固的常规分析和近线质量检查。
什么是色散光栅近红外分光光度计?色散光栅近红外分光光度计使用固定光栅和检测器阵列,快速采集近红外光谱且无运动部件。它适合紧凑、快速、坚固的常规分析和近线质量检查。## 概述
该仪器不使用运动干涉仪,而是将钨卤灯发出的宽带光色散到固定光栅上,并把光谱成像到线阵光电二极管或 InGaAs 阵列上。无运动部件减少了磨损和对振动的敏感性,并可在毫秒内采集完整光谱,适合在线和近线使用。CCD 或阵列读出在整个范围内同时检测,通常根据阵列材料覆盖 900 至 1700 nm 或 1100 至 2500 nm。分辨率一般低于 FT-NIR,常为 5 至 10 nm,但对许多宽带定量方法和 identity 检查已足够。光纤探头、反射头和透射模块将该平台扩展到固体、浆料和液体。化学计量学软件支持谱库检索、偏最小二乘模型和趋势记录。## 工作原理是什么?近红外光谱探测分子基频振动的倍频和合频,主要来自 O-H、N-H 和 C-H 等含氢基团。该区域吸收较弱,因此光可穿透粉末、谷物和液体数毫米至数厘米,实现几乎无需前处理的大量样品测量。仪器使用多色光源,配合傅里叶变换干涉仪或带检测器阵列的光栅,记录反射、透射或透反射光谱。由于谱带宽且重叠,成分含量通过多元校正模型预测,模型由一批用一级方法(如卡尔费休滴定、凯氏定氮或 HPLC)分析的参考样品建立。模型使用偏最小二乘回归等算法,并针对特定产品、仪器和测量条件进行验证。## 主要特点有哪些?- 固定光栅,无运动光学部件 - 线阵 InGaAs 或硅阵列检测器 - 毫秒级采集全谱,适合在线使用 - 光纤探头、反射和透射模块 - 紧凑且抗振动,适合近线安装 - 谱库检索和偏最小二乘软件
技术参数有哪些?典型的色散光栅近红外分光光度计配置:波长范围为 900–1700 nm or 1100–2500 nm;检测器为 linear InGaAs photodiode array;光谱分辨率为 5–10 nm;波长准确度为 ±1 nm;积分时间为 1–100 ms;光源为 tungsten halogen, 20 W。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?色散光栅近红外分光光度计主要用于近线 identity 和成分检查、配合探头的连续过程监控、谷物和食品筛查、石化和聚合物性质预测。在更广泛的近红外光谱仪类别中,实验室还将其用于收货时原料 identity 鉴定、食品和饲料中水分、蛋白质、脂肪和淀粉测定、药品混合均匀度和片剂含量监控。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 Ph. Eur. 2.2.40 Near-infrared spectrophotometry、USP <1119> Near-Infrared Spectroscopy、ASTM E1655 Standard Practices for Infrared Multivariate Quantitative Analysis、ISO 12099 Guidelines for the application of near infrared spectrometry、ICH Q2(R2) Validation of analytical procedures、ISO/IEC 17025、IEC 61010-1。本型号的认证候选包括 CE、ISO 9001 manufacturing、IP65 enclosure option;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。近红外的结果取决于取样的代表性,因为测量体积相对于批次很小。样品呈递方式、粒径、堆密度、温度和水分都会使光谱偏移,因此操作者必须遵循固定规程。校正模型需要持续维护:用参考样品进行性能检查、异常值检测,并在原料、工艺或仪器变化时更新。参考分析必须准确,因为模型误差会持续存在。仪器使用前应确认,模型使用前应验证,软件和校正更新需变更控制。仪器应安装在稳固台面或车间内,避免振动、粉尘和温度波动。## 如何选择合适的色散光栅近红外分光光度计?当速度、紧凑性或抗振动比最高光谱分辨率更重要时,例如近线或在线过程使用,选择色散光栅仪器。确认波长范围覆盖分析物谱带、阵列适合样品温度,并能转移经验证模型。若安装在车间,请检查杂散光性能和热稳定性。### 与其他近红外光谱仪型号相比如何?应根据样品形式和法规环境选择近红外系统,因为校正模型往往比硬件更有价值。台式 FT-NIR 分析仪适合需要高分辨率和稳定性能、管理多种产品模型的实验室。带阵列检测器的色散光栅仪器紧凑快速,适合常规质量检查。手持分析仪用于来料 identity 鉴定和现场工作。带光纤探头的过程分析仪在反应釜、干燥器或混合机处测量。化学成像系统用于映射不均匀性。对每种方案,都需确认存在或能够开发经验证的校正模型,并检查波长范围、分辨率、光度稳定性和能否从其他场地转移模型。
完整技术参数
| 波长范围 | 900–1700 nm or 1100–2500 nm |
|---|---|
| 检测器 | linear InGaAs photodiode array |
| 光谱分辨率 | 5–10 nm |
| 波长准确度 | ±1 nm |
| 积分时间 | 1–100 ms |
| 光源 | tungsten halogen, 20 W |
| 信噪比 | ≥ 3000:1 |
| 光度范围 | 0–3 AU |
| 工作温度 | 5–40 °C |
| 通信接口 | USB / Ethernet |
以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。
应用领域
- 近线 identity 和成分检查
- 配合探头的连续过程监控
- 谷物和食品筛查
- 石化和聚合物性质预测
主要特点
- 固定光栅,无运动光学部件
- 线阵 InGaAs 或硅阵列检测器
- 毫秒级采集全谱,适合在线使用
- 光纤探头、反射和透射模块
- 紧凑且抗振动,适合近线安装
- 谱库检索和偏最小二乘软件
关于色散光栅近红外分光光度计的常见问题
使用良好校正模型时,许多常规定量方法的预测准确度相当,因为宽近红外谱带可容忍中等分辨率。FT-NIR 通常在波长精度、分辨率和模型转移方面更优。方法开发和跨场地转移宜选 FT-NIR,快速常规或过程使用宜选色散型。
阵列检测器无运动部件,可一次采集整个光谱,因此测量快速且机械坚固。这允许每秒采集数百条光谱用于平均和实时过程控制,并降低车间环境中运动镜或光栅失效的风险。
灵敏度受检测器噪声、杂散光、灯输出以及为速度采用的短积分时间限制。在 1100 至 2500 nm 区域,InGaAs 和扩展型检测器噪声增大,水的吸收可能占主导。多次扫描平均并控制样品温度可提高重现性。
FTIR 测量约 4000 至 400 cm-1 中红外的基频振动吸收,给出官能团的尖锐特征谱带。NIR 测量约 12500 至 4000 cm-1 的弱倍频和合频,给出适合定量模型的宽而重叠的谱带。FTIR 用于结构鉴定,NIR 用于大量样品的成分预测。
通常需要,因为模型针对产品、工艺和仪器。供应商可能提供常见物料的初始或谱库模型,但仍需验证,并常需用本地样品调整。应为模型开发预留时间和参考实验室能力,并为物料和工艺变化带来的持续模型维护做预算。
稳健的定量模型通常需要至少 50 至 100 个覆盖预期变异的代表性样品,范围宽或多个季节时还应更多。样品必须覆盖分析物和基体变异的完整范围,其参考值必须准确。模型性能以独立验证样品判断,而非校正集本身。
相关型号






