

电感耦合等离子体发射光谱仪
Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer
- SKU ATS-0003
- 原子光谱仪
- CE (to be confirmed)
- ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
- IEC 61010-1 safety compliance (to be confirmed)
价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价
价格取决于配置、数量与目的港。
主要技术参数
| 波长范围 | 165–900 nm |
|---|---|
| 光学分辨率 | ≤ 0.007 nm at 200 nm |
| 等离子体温度 | 6000–10000 K |
| 检出限 | 0.1–10 µg/L typical |
| 线性动态范围 | up to 6 orders |
| 射频功率 | 1000–1600 W |
作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:USP <730> Plasma Spectrochemistry, USP <233> Elemental Impurities — Procedures, ICH Q3D Elemental Impurities
什么是电感耦合等离子体发射光谱仪?
ICP-OES 在氩等离子体中原子化样品,测量被激发的原子和离子发出的光。它适合常规实验室中从微克/升至百分含量的多元素同时分析。
什么是电感耦合等离子体发射光谱仪?ICP-OES 在氩等离子体中原子化样品,测量被激发的原子和离子发出的光。它适合常规实验室中从微克/升至百分含量的多元素同时分析。## 概述
射频发生器在石英炬管中维持 6000 至 10000 K 的氩等离子体,雾化样品在此脱溶剂、汽化、原子化和激发。受激物种发射特征谱线,经中阶梯光栅或电荷耦合光学系统色散后,在众多波长上同时测量。宽线性动态范围使常量与痕量元素可一次测定,径向、轴向或双向炬管配置在灵敏度和基体耐受性之间取得平衡。由于可选发射线众多,干扰校正和谱线选择是常规工作。钇或铟等内标可校正漂移和基体效应。样品引入使用雾化器和喷雾室,需要更高灵敏度或固体进样时可选用氢化物发生、激光烧蚀或超声雾化。检出限通常为微克/升。## 工作原理是什么?在原子光谱中,样品在火焰、石墨炉、等离子体或氢化物发生池中被转化为自由原子。原子在每种元素特征波长处吸收或发射光。原子吸收将空心阴极灯的发射线穿过原子云,并按朗伯-比尔定律测量强度下降。原子发射在等离子体或火焰中激发原子,测量其弛豫时发出的光。原子荧光用光源激发原子并在直角方向测量发射光,对氢化物形成元素具有高灵敏度。电感耦合等离子体可达 6000 至 10000 K,使多数元素原子化和电离;生成的离子可通过质谱计数,获得极低检出限。校准使用系列标准品、内标以及背景和基体校正。## 主要特点有哪些?- 氩等离子体炬管,支持径向、轴向或双向观测 - 多元素同时 CCD 或中阶梯光栅检测 - 从微克/升至百分含量的宽线性范围 - 内标校正通道 - 可选氢化物发生和超声雾化器 - 全波长覆盖并带干扰校正软件
技术参数有哪些?典型的电感耦合等离子体发射光谱仪配置:波长范围为 165–900 nm;光学分辨率为 ≤ 0.007 nm at 200 nm;等离子体温度为 6000–10000 K;检出限为 0.1–10 µg/L typical;线性动态范围为 up to 6 orders;射频功率为 1000–1600 W。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?电感耦合等离子体发射光谱仪主要用于水和废水的多元素分析、制药元素杂质筛查、食品、饲料和农业样品元素分析、金属、合金和地质样品分析。在更广泛的原子光谱仪类别中,实验室还将其用于药用材料的元素杂质检测、饮用水、废水和土壤中的痕量金属、食品安全和营养元素分析。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 USP <730> Plasma Spectrochemistry、USP <233> Elemental Impurities—Procedures、ICH Q3D Elemental Impurities、ISO 11885 Water quality—ICP-OES determination of elements、ISO 17294-2 Water quality—ICP-MS determination of elements、US EPA Method 200.7、US EPA Method 200.8、ISO/IEC 17025、IEC 61010-1。本型号的认证候选包括 CE、ISO 9001 manufacturing、IEC 61010-1 safety compliance;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。原子光谱安装需要气源、排风,等离子体系统还需要高纯氩气和较大电功率。乙炔和一氧化二氮需要合适的减压阀、防回火器和通风。酸消解的样品前处理是误差和污染的主要来源,因此必须使用超纯酸和洁净器皿。空心阴极灯寿命有限,可能需要预热和对光。背景校正、内标和基体匹配可控制易电离元素、分子物种和黏度带来的干扰。每天用校准标准品验证性能,并用连续校准核查检查稳定性。保存维修记录,并监控灯、炬管和石墨管的消耗。## 如何选择合适的电感耦合等离子体发射光谱仪?当需要在宽浓度范围内同时测定多种元素、并兼顾通量和合理运行成本时,选择 ICP-OES。应针对基体比较炬管观测方式和光学分辨率,并确认氩气供应和排风能力。说明是否需要氢化物发生或固体进样,并检查软件能否处理方法所需的干扰校正。### 与其他原子光谱仪型号相比如何?应根据元素、浓度和基体选择原子技术。火焰原子吸收简单、稳健,适合水、土壤和金属样品中毫克/升水平的常规测定。石墨炉原子吸收对有限数量的元素可达微克/升及以下,且样品用量小。电感耦合等离子体发射光谱可进行多元素分析,覆盖微克/升至百分含量并具有宽线性范围。电感耦合等离子体质谱对多数元素可达纳克/升及更低,并可测定同位素。原子荧光对氢化物发生后的汞、砷、硒和锑高效。微波等离子体发射可替代火焰测定部分元素,使用氮气而非乙炔。选择前确认所需检出限、样品通量、元素数量及可用气体。
完整技术参数
| 波长范围 | 165–900 nm |
|---|---|
| 光学分辨率 | ≤ 0.007 nm at 200 nm |
| 等离子体温度 | 6000–10000 K |
| 检出限 | 0.1–10 µg/L typical |
| 线性动态范围 | up to 6 orders |
| 射频功率 | 1000–1600 W |
| 炬管观测方式 | radial, axial or dual |
| 样品引入 | concentric or V-groove nebulizer |
| 氩气消耗 | 12–18 L/min |
| 检测器 | CCD or CMOS array |
以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。
应用领域
- 水和废水的多元素分析
- 制药元素杂质筛查
- 食品、饲料和农业样品元素分析
- 金属、合金和地质样品分析
主要特点
- 氩等离子体炬管,支持径向、轴向或双向观测
- 多元素同时 CCD 或中阶梯光栅检测
- 从微克/升至百分含量的宽线性范围
- 内标校正通道
- 可选氢化物发生和超声雾化器
- 全波长覆盖并带干扰校正软件
关于电感耦合等离子体发射光谱仪的常见问题
轴向观测沿等离子体长度方向,发射光程更长、检出限更低,但基体和自吸收影响更大。径向观测横向观察等离子体,对高溶解固体耐受性更好,常量元素校准更容易。双向观测仪器可按元素在两种模式间切换。
等离子体、雾化器和辅助气合计每分钟消耗约 12 至 18 升氩气,高纯氩是持续成本。降低等离子体流量、使用低流量炬管或合适的雾化器可减少消耗,但可能牺牲灵敏度。规划实验室时应预算氩气供应和消耗。
ICP-OES 可测定汞、砷、硒和锑,但用氢化物发生或 ICP-MS 时检出限往往更好。必须控制样品前处理中的挥发损失。对于痕量汞,专用冷原子吸收或荧光分析仪往往是更好的选择。
少数元素在毫克/升水平且要求操作简单成本低时选择火焰 AAS。痕量微克/升水平且样品量小时选择石墨炉 AAS。微克/升至百分含量的多元素同时测定选择 ICP-OES。需要最低检出限或同位素比值时选择 ICP-MS,但要接受更高成本和更强的基体敏感性。
原子化会产生与分析物无关的烟雾、分子物种和散射吸收或发射光,若不校正会使结果产生偏差。氘灯、塞曼或史密斯-希夫杰校正可扣除这些贡献。基体改进剂和标准加入法可进一步降低结构化背景,尤其在复杂样品的石墨炉分析中。
多数样品需要消解或提取以释放分析物并减少基体效应。常用密闭容器或微波系统的酸消解,然后稀释到合适的酸浓度。洁净器皿、超纯试剂和方法空白可控制污染。部分方法中石墨炉测定的固体样品可能只需悬浮或浆液制备。
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