氢化物发生样品引入系统

什么是氢化物发生样品引入系统？氢化物发生样品引入系统在进入等离子体前将挥发性元素转化为气态氢化物。当需要基体分离和低检出限时，选择它用于砷、硒、锑和汞。## 概述

样品与酸和硼氢化钠混合，生成砷化氢或硒化氢等挥发性氢化物，或在冷原子模式下生成元素汞蒸气。气液分离器将蒸气转移到送入等离子体的载气流中，留下大部分液体基体。由于分析物与基体分离，来自其他元素高浓度的干扰大大减少，传输效率接近 100%，检出限远低于气动雾化。该系统可直接与 ICP-OES 或 ICP-MS 耦合，与色谱结合时也适合形态分析。反应条件必须严格控制，来自铜、镍等形成氢化物或催化元素的干扰需要仔细的方法设计。## 工作原理是什么？样品引入系统决定到达等离子体的样品量和形态。对于液体，蠕动泵将样品输送到雾化器形成气溶胶，喷雾室随后去除大液滴，只有细液滴进入等离子体。雾化器类型和喷雾室设计决定传输效率（通常仅为百分之几），从而决定灵敏度。超声雾化器利用振动产生更细的气溶胶并提高传输效率，电热蒸发则加热少量样品形成蒸气。氢化物发生将某些元素转化为挥发性物种，使其与基体分离。激光烧蚀从样品表面去除固体颗粒用于直接分析。无论采用哪种方式，都必须优化输送管路长度和气体流量，样品间的冲洗控制残留。## 主要特点有哪些？- 带硼氢化钠的反应流路 - 用于蒸气转移的气液分离器 - 分析物传输接近 100% - 用于汞的冷原子模式 - 大幅降低基体干扰 - 直接耦合 ICP-OES 或 ICP-MS

技术参数有哪些？典型的氢化物发生样品引入系统配置：可测元素为 As, Se, Sb, Bi, Sn, Te, Hg；检出限为 0.005–0.1 µg/L；传输效率为 near 100%；还原剂为 sodium borohydride；载气为 argon, 200–600 mL/min；气液分离器为 low dead volume。以上数值代表该产品类别的常见水平，具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用？氢化物发生样品引入系统主要用于水和食品中砷和硒、冷原子发生测定汞、包装和聚合物中锑和锡、与色谱耦合的形态分析。在更广泛的 ICP 样品引入系统类别中，实验室还将其用于 ICP-OES 和 ICP-MS 的常规液体样品输送、提高传输效率的痕量分析、直接固体进样和元素成像。## 适用哪些标准与认证？相关标准与方法包括 USP <730> Plasma Spectrochemistry、ISO 11885 Water quality—ICP-OES determination of elements、US EPA Method 200.7、US EPA Method 200.8、US EPA Method 6020B、ISO/IEC 17025。本型号的认证候选包括 CE、ISO 9001 manufacturing、Elemental cleanliness test；每项认证均需针对具体配置在发货前确认，仅提供已实际签发的证书。样品引入部件是 ICP 系统最常更换的零件，也是灵敏度或精密度下降的常见原因。雾化器会堵塞、腐蚀或开裂；喷雾室会积累沉积物；泵管会拉伸并改变流量；激光池和输送管路会吸附分析物。应制定清洁和更换计划并保持备件。传输效率取决于气体流量、管路长度和腔体设计，因此更换一个部件可能需要重新优化方法。对于高固体样品，应稀释或使用耐基体雾化器以避免堵塞。维护后务必检查提升量和气溶胶质量，并在放行结果前用核查标准品验证性能。## 如何选择合适的氢化物发生样品引入系统？当目标元素为挥发性氢化物形成元素，尤其是汞，且需要基体分离或最低检出限时，选择氢化物发生。请说明元素、基体以及是否计划形态分析。确认等离子体能接受干燥蒸气流，且试剂和废液处理到位。### 与其他 ICP 样品引入系统型号相比如何？应根据样品类型、检出限要求和基体选择样品引入系统。同心雾化器配旋流喷雾室是洁净水溶液的标准高效选择。高溶解固体需要耐堵塞的 V 形槽、交叉流或高盐雾化器。当样品体积允许时，超声雾化改善痕量工作的检出限。固体样品和空间成像选择激光烧蚀，极小体积或微量样品选择电热蒸发。氢化物发生针对砷、硒及相关元素并实现基体分离。配蠕动泵的自动进样器提供可重现的输送和通量。确认与炬管、等离子体气流量和仪器软件的兼容性。