

带积分球的紫外可见近红外分光光度计
UV-Vis-NIR Spectrophotometer with Integrating Sphere
- SKU UVV-0003
- 紫外可见光谱仪
- CE (to be confirmed)
- ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
- IEC 61010-1 safety (to be confirmed)
价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价
价格取决于配置、数量与目的港。
主要技术参数
| 波长范围 | 190–2500 nm |
|---|---|
| 光谱带宽(紫外可见) | 0.05–5 nm variable |
| 波长准确度 | ±0.1 nm (UV-Vis), ±0.4 nm (NIR) |
| 光度范围 | −6 to 6 A |
| 杂散光 | ≤0.00008% T at 220 nm (NaI) |
| 检测器 | PMT (UV-Vis), PbS or InGaAs (NIR) |
作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:ASTM E275, ASTM E925, ASTM E958
什么是带积分球的紫外可见近红外分光光度计?
带积分球的紫外可见近红外分光光度计在 190 至 2500 nm 或更宽范围内测量透射比以及漫反射或镜面反射。它是研究玻璃、涂层、光伏材料、粉末和其他无法用比色皿测量的固体的标准工具。
什么是带积分球的紫外可见近红外分光光度计?带积分球的紫外可见近红外分光光度计在 190 至 2500 nm 或更宽范围内测量透射比以及漫反射或镜面反射。它是研究玻璃、涂层、光伏材料、粉末和其他无法用比色皿测量的固体的标准工具。## 概述
该仪器是带双光栅单色器的双光束扫描分光光度计,紫外可见区使用光电倍增管,近红外区使用 PbS 或 InGaAs 检测器。涂有 PTFE 或硫酸钡的 60 mm 或 150 mm 积分球可收集固体、薄膜和粉末的所有散射光。附件包括 8° 镜面反射、变角绝对反射以及用于大面板的透射样品架。波长范围通常为 190 至 2500 nm,增加检测器后可扩展至 3300 nm。紫外可见区带宽可在 0.05 至 5 nm 间选择,光度范围超过 6 A,杂散光低于 0.00008% T。漫反射数据可转换为 Kubelka–Munk 函数用于半导体带隙估算,以及建筑玻璃的太阳光加权透射比。样品对准和使用有证反射标准进行积分球校准对可靠结果至关重要。## 工作原理是什么?紫外可见光谱仪使选定波长的光通过样品或照射样品,并测量透射或反射强度与参比之比。光源通常是用于紫外区的氘灯和用于可见光及近红外区的钨卤素灯,紧凑型设计中常以氙闪灯或 LED 代替。波长选择使用带全息光栅的扫描单色器,或使用固定光栅将光色散到二极管阵列或 CCD 检测器上,从而一次采集整个光谱。光电倍增管、硅光电二极管或 InGaAs 检测器将光转换为电信号。吸光度按透射比的 −log10 计算,并通过朗伯-比尔定律与浓度关联。杂散光、带宽和光度线性决定高吸光度下的性能,而积分球和光纤探头则使同一原理适用于固体、薄膜和原位测量。## 主要特点有哪些?- 双光栅单色器为高吸光度样品提供极低的杂散光。- 积分球收集固体的总反射、漫反射和透射。- 使用 PbS 或 InGaAs 检测器扩展至 2500 nm 或 3300 nm 范围。- 0.05 至 5 nm 可变带宽在分辨率和信号之间取得平衡。- 镜面反射和变角附件扩展取样方式。- 软件计算 Kubelka–Munk、太阳光透射比和颜色坐标。## 技术参数有哪些?典型的带积分球的紫外可见近红外分光光度计配置:波长范围为 190–2500 nm;光谱带宽(紫外可见)为 0.05–5 nm variable;波长准确度为 ±0.1 nm (UV-Vis), ±0.4 nm (NIR);光度范围为 −6 to 6 A;杂散光为 ≤0.00008% T at 220 nm (NaI);检测器为 PMT (UV-Vis), PbS or InGaAs (NIR)。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?带积分球的紫外可见近红外分光光度计主要用于建筑和汽车玻璃、光伏电池和涂层研究、半导体带隙测定、粉末和颜料漫反射、光学滤光片和镜片表征。在更广泛的紫外可见光谱仪类别中,实验室还将其用于反应动力学和酶活性测定、纳米颗粒等离子体共振表征、薄膜和涂层光学性质。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 ASTM E275、ASTM E925、ASTM E958、USP <857>、Ph. Eur. 2.2.25、ISO 8655-7、GB/T 26798。本型号的认证候选包括 CE、ISO 9001 manufacturing、IEC 61010-1 safety;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。灯应预热 15–30 分钟,并在每次测量前进行基线校正。应定期使用氧化钬或镨钕滤光片验证波长准确度,使用重铬酸钾溶液验证光度准确度,使用碘化钠或氯化钾溶液验证杂散光。紫外区应使用配对石英比色皿,并保持光学表面清洁、无指纹。氘灯应在额定寿命约 2000 小时后更换。应控制环境温度和振动,使灰尘和溶剂蒸气远离光学部件。受监管的实验室应安排 IQ/OQ/PQ,并使用带审计追踪和访问控制的软件。## 如何选择合适的带积分球的紫外可见近红外分光光度计?当样品是固体、散射或需要近红外覆盖时,应选择此配置。它比标准紫外可见系统更昂贵、体积更大。询价时应说明波长范围、积分球直径、所需附件、反射标准、样品尺寸限制以及所需的任何光谱加权计算。### 与其他紫外可见光谱仪型号相比如何?选择紫外可见光谱仪应根据光谱速度、波长范围、样品类型和附件需求决定。二极管阵列和 CCD 仪器可在不到一秒内采集完整光谱,适合动力学或不稳定样品,但杂散光高于扫描式双光束系统,后者仍是高吸光度工作的选择。使用 PbS 或 InGaAs 检测器扩展至 3300 nm 需要紫外可见近红外系统。固体薄膜、粉末和涂层需要积分球。模块化光纤光谱仪适合过程管线和 OEM 应用,而酶标仪用于高通量检测。应比较带宽、220 和 340 nm 处的杂散光、光度范围、基线平坦度和软件功能。如计划进行热力学或酶动力学测量,应指明温度控制要求。
完整技术参数
| 波长范围 | 190–2500 nm |
|---|---|
| 光谱带宽(紫外可见) | 0.05–5 nm variable |
| 波长准确度 | ±0.1 nm (UV-Vis), ±0.4 nm (NIR) |
| 光度范围 | −6 to 6 A |
| 杂散光 | ≤0.00008% T at 220 nm (NaI) |
| 检测器 | PMT (UV-Vis), PbS or InGaAs (NIR) |
| 积分球直径 | 60 mm or 150 mm |
| 扫描速度 | Up to 2000 nm/min |
| 基线平坦度 | ±0.0003 A |
| 电源 | 100–240 V AC, 50/60 Hz |
以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。
应用领域
- 建筑和汽车玻璃
- 光伏电池和涂层研究
- 半导体带隙测定
- 粉末和颜料漫反射
- 光学滤光片和镜片表征
主要特点
- 双光栅单色器为高吸光度样品提供极低的杂散光。
- 积分球收集固体的总反射、漫反射和透射。
- 使用 PbS 或 InGaAs 检测器扩展至 2500 nm 或 3300 nm 范围。
- 0.05 至 5 nm 可变带宽在分辨率和信号之间取得平衡。
- 镜面反射和变角附件扩展取样方式。
- 软件计算 Kubelka–Munk、太阳光透射比和颜色坐标。
关于带积分球的紫外可见近红外分光光度计的常见问题
积分球收集固体、薄膜或浑浊样品向各方向散射的光,因此可测量总反射或漫反射和透射。标准检测器会漏掉散射光,低估信号。
漫反射通过 Kubelka–Munk 函数转换,然后构建 Tauc 图并将其线性区外推至能量轴。截距给出光学带隙,前提是采用合适的直接或间接跃迁模型。
基线校正和准确度检查使用 PTFE 或 Spectralon 型烧结聚合物等有证漫反射标准,以及校准过的反射镜或灰度标准。其证书必须可溯源至国家计量机构。
二极管阵列仪器将所有波长色散到检测器阵列上,在不到一秒内记录整个光谱,适合动力学研究。扫描式系统使单色器逐个波长步进,杂散光更低,对要求严格的样品具有更宽的光度范围。
标准紫外可见仪器覆盖约 190–1100 nm,从深紫外到短波近红外。紫外可见近红外型号使用 PbS 或 InGaAs 检测器扩展至 2500 或 3300 nm,适用于玻璃、光学涂层和某些聚合物。
大多数仪器在约 0.1 至 1.0 吸光度之间线性最佳,高品质双光束系统可在 3 A 或更高范围内保持线性。高于 2 A 时杂散光会造成偏差,因此应尽可能稀释样品或使用较短光程的比色皿。
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- CE (to be confirmed)
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