

三重四极杆电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS/MS)
Triple Quadrupole ICP-MS (ICP-MS/MS)
- SKU IMS-0002
- 电感耦合等离子体质谱仪
- CE (to be confirmed)
- ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
- IEC 61010-1 safety (to be confirmed)
价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价
价格取决于配置、数量与目的港。
主要技术参数
| 质量范围 | m/z 2–260 |
|---|---|
| 灵敏度(Y 89,无气模式) | ≥ 50 Mcps/ppm |
| 丰度灵敏度 | ≤ 1×10^-10 (at m/z 89, Q1 + Q2) |
| 背景等效浓度,硫(32S16O,O2 模式) | ≤ 100 ppt |
| 背景等效浓度,磷(31P16O) | ≤ 50 ppt |
| 氧化物比(CeO/Ce) | ≤ 1.5% |
作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:USP <233> Elemental Impurities Procedures, ICH Q3D Elemental Impurities, EPA Method 200.8
什么是三重四极杆电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS/MS)?
ICP-MS/MS 在反应池前后各放置一组四极杆质量过滤器,仅选定质量的前体离子进入反应池。这种受控反应化学可消除氦气模式无法去除的干扰,适用于硫、磷、硅、硒、砷、稀土元素和高纯半导体分析。
什么是三重四极杆电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS/MS)?ICP-MS/MS 在反应池前后各放置一组四极杆质量过滤器,仅选定质量的前体离子进入反应池。这种受控反应化学可消除氦气模式无法去除的干扰,适用于硫、磷、硅、硒、砷、稀土元素和高纯半导体分析。## 概述
ICP-MS/MS 中,第一级四极杆(Q1)在离子进入八极杆反应池之前进行过滤,因此只有目标 m/z 及其同质量干扰离子到达反应池。使用氧气、氨气或氢气等反应气时,分析物要么被转移为产物离子质量,例如 32S+ 转变为 m/z 48 的 32S16O+,要么干扰物被中和。第二级四极杆(Q2)随后选择产物离子。由于无用离子在反应前已被排除,这种质量转移和原位反应控制即使在样品基质变化时也能给出可重现的结果。该方法使硫和磷的背景等效浓度达到低 ppt 水平,并支持高纯酸中 28Si 和 31P 等同位素的分析。氦气模式仍可用于多元素筛查。成本和调谐复杂度高于单四极杆仪器。## 工作原理是什么?ICP-MS 中,液体样品被雾化成细小气溶胶,经雾化室后由氩气载入等离子体炬管。27 或 40 MHz 射频线圈维持约 6000 至 10000 K 的等离子体,使分析物去溶剂、原子化并电离,大部分形成单电荷离子。离子经采样锥和截取锥提取进入高真空区,由离子透镜聚焦,并由质量分析器(最常见为四极杆)分离。碰撞或反应池利用氦气动能歧视或反应气去除多原子离子干扰,例如 56Fe 上的 40Ar16O。脉冲和模拟模式下的电子倍增器可在高达九个数量级范围内计数离子。## 主要特点有哪些?- 反应池前后两组四极杆质量过滤器,实现受控反应化学 - 质量转移模式,利用氧气或氨气使分析物远离干扰 - 在线质量模式,用氢气或氦气进行常规干扰消除 - 硫、磷和硅的背景等效浓度达到低 ppt - 软件提供自动反应气调谐和方法开发辅助 - Q1 和 Q2 快速扫描,支持单次采集内多调谐方法
技术参数有哪些?典型的三重四极杆电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS/MS)配置:质量范围为 m/z 2–260;灵敏度(Y 89,无气模式)为 ≥ 50 Mcps/ppm;丰度灵敏度为 ≤ 1×10^-10 (at m/z 89, Q1 + Q2);背景等效浓度,硫(32S16O,O2 模式)为 ≤ 100 ppt;背景等效浓度,磷(31P16O)为 ≤ 50 ppt;氧化物比(CeO/Ce)为 ≤ 1.5%。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?三重四极杆电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS/MS)主要用于高纯材料中的硫、磷和硅、半导体工艺化学品分析、地质样品中稀土元素分析、复杂基质中的硒和砷、单颗粒模式纳米颗粒分析。在更广泛的电感耦合等离子体质谱仪类别中,实验室还将其用于饮用水和废水中重金属、药品元素杂质、食品和饮料中有毒元素。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 USP <233> Elemental Impurities Procedures、ICH Q3D Elemental Impurities、EPA Method 200.8、EPA Method 6020B、ISO 17294-2、ASTM D5673、EN 15763、GB 5009.268、ISO/IEC 17025、IEC 61010-1。本型号的认证候选包括 CE、ISO 9001 manufacturing、IEC 61010-1 safety;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。ICP-MS 需要高纯氩气(通常 99.996% 或更高),消耗量约 15 至 20 L/min,另需冷却水或循环冷却机、专用排风和稳定电源。应使用痕量金属级酸、PFA 或 FEP 等低空白实验器皿,以及 18.2 MΩ·cm 超纯水。每天对灵敏度、氧化物比(CeO/Ce 低于 2%)和双电荷比(Ce++/Ce 低于 3%)进行调谐。根据基质负荷清洁或更换锥、炬管和雾化器,并定期检查蠕动泵管。使用内标校正漂移。制药和受监管工作应要求软件具备审计追踪,并遵循 USP <233> 和 ICH Q3D 方法验证。## 如何选择合适的三重四极杆电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS/MS)?当氦气模式无法解决 S、P、Si、As、Se 或稀土元素的干扰,或样品基质变化不可预测时,应选择 ICP-MS/MS;常规金属分析用标准四极杆仪器即可。询价时应说明丰度灵敏度、BEC 目标、所需反应气和自动调谐支持。### 与其他电感耦合等离子体质谱仪型号相比如何?应根据干扰严重程度、检出限和预算选择 ICP-MS 类型。配碰撞池的单四极杆可以低成本处理大多数水、食品和临床工作。三重四极杆 ICP-MS/MS 增加质量转移反应化学,可解决硫、磷、含氯样品中的砷和稀土氧化物等疑难干扰。扇形磁场仪器具有高分辨率和最低背景,适用于半导体和地球化学工作;TOF 系统则可采集完整质谱以应对快速瞬态信号。应检查基质耐受度(例如总溶解固体最高 0.2%,或更高含量时的气溶胶稀释选项)、氩气消耗、进样套件、自动进样器和软件合规功能。应在自身基质中核实检出限和背景等效浓度,而不是依赖去离子水数值。
完整技术参数
| 质量范围 | m/z 2–260 |
|---|---|
| 灵敏度(Y 89,无气模式) | ≥ 50 Mcps/ppm |
| 丰度灵敏度 | ≤ 1×10^-10 (at m/z 89, Q1 + Q2) |
| 背景等效浓度,硫(32S16O,O2 模式) | ≤ 100 ppt |
| 背景等效浓度,磷(31P16O) | ≤ 50 ppt |
| 氧化物比(CeO/Ce) | ≤ 1.5% |
| 反应气 | O2, NH3/He, H2, He |
| 检测器动态范围 | 10 orders of magnitude |
| 稳定性(RSD,2 h) | ≤ 3% |
| 氩气消耗 | ~15–18 L/min |
以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。
应用领域
- 高纯材料中的硫、磷和硅
- 半导体工艺化学品分析
- 地质样品中稀土元素分析
- 复杂基质中的硒和砷
- 单颗粒模式纳米颗粒分析
主要特点
- 反应池前后两组四极杆质量过滤器,实现受控反应化学
- 质量转移模式,利用氧气或氨气使分析物远离干扰
- 在线质量模式,用氢气或氦气进行常规干扰消除
- 硫、磷和硅的背景等效浓度达到低 ppt
- 软件提供自动反应气调谐和方法开发辅助
- Q1 和 Q2 快速扫描,支持单次采集内多调谐方法
关于三重四极杆电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS/MS)的常见问题
在质量转移模式下,Q1 选择分析物质量,氧气等反应气将分析物转化为更高质量的产物离子,Q2 测量该产物离子。原质量处的干扰物不会形成相同产物,因此可被避开。
S 和 P 受 O2+ 和 NO+ 干扰且背景较高。采用氧气质量转移后,S 和 P 形成 m/z 48 和 47 的 SO+ 和 PO+,此处基本没有干扰,且 Q1 阻止其他离子形成相同产物,从而降低背景。
在无气或氦气模式下,大多数元素没有明显损失。在反应模式下,灵敏度取决于反应效率,氧气或氨气质量转移对许多分析物的效率可超过 90%。较低的绝对计数由大幅降低的背景所弥补。
在洁净水溶液中,ICP-MS 对大多数元素的检出限通常达到低万亿分之一(ng/L)水平,部分重元素可达亚 ppt。由于样品稀释、空白污染和基质效应,实际限值更高,必须通过方法验证确定。
ICP-OES 测量受激原子和离子发射的光,检出限为 ppb 级,线性范围宽、基质耐受度高。ICP-MS 按质量测量离子,检出限达 ppt 级,并可提供同位素信息,但耐受的溶解固体较少,运行成本也更高。
在氦气动能歧视模式下,较大的多原子离子与氦气碰撞更频繁,损失的能量比分析物离子更多,因此被偏压电压阻挡。氧气或氨气等反应气则可把分析物或干扰物转化为不同质量的离子。
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