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轴向观测电感耦合等离子体发射光谱仪 — 产品图片

轴向观测电感耦合等离子体发射光谱仪

Axial-View ICP-OES Spectrometer

价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价

价格取决于配置、数量与目的港。

主要技术参数

主要技术参数
波长范围165–900 nm
观测方式axial
检出限0.1–2 µg/L typical
光学分辨率≤ 0.009 nm at 200 nm
溶解固体耐受up to 1%
检测器CCD or CMOS array
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作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:USP <730> Plasma Spectrochemistry, USP <233> Elemental Impurities — Procedures, ICH Q3D Elemental Impurities

什么是轴向观测电感耦合等离子体发射光谱仪?

轴向观测电感耦合等离子体发射光谱仪沿轴向观察等离子体以延长光程。它适合饮用水和高纯化学品等洁净样品中最低检出限的测定。

什么是轴向观测电感耦合等离子体发射光谱仪?轴向观测电感耦合等离子体发射光谱仪沿轴向观察等离子体以延长光程。它适合饮用水和高纯化学品等洁净样品中最低检出限的测定。## 概述

轴向观测沿等离子体长度方向观察,因此发射光在到达光学系统前经过长得多的受激原子区域。这使检出限显著低于径向观测,许多元素常低五至十倍。代价是自吸收和基体效应更大,因为整个等离子体都贡献信号,需使用剪切气或冷却锥接口保护炬管并减少热效应。高溶解固体和百分含量元素可能使检测器饱和,因此需要稀释或切换到径向观测。轴向仪器在饮用水、超纯化学品、食品消解液和制药溶液的痕量分析中表现出色,这些场合基体低且需要尽可能低的检出限。## 工作原理是什么?射频发生器驱动石英炬管外的负载线圈,维持 6000 至 10000 K 的氩等离子体。样品气溶胶进入等离子体并脱溶剂、汽化、原子化和激发。受激原子和离子弛豫时发射各元素特征波长的光。发射光由中阶梯光栅或基于 CCD 的多色器色散,多条谱线同时测量。径向观测从侧面观察等离子体,可耐受高溶解固体并减少自吸收;轴向观测沿等离子体轴向观察,延长光程并降低检出限。双向观测仪器按元素切换。内标、背景校正和干扰算法校正在漂移和谱线重叠。宽动态范围使主量、次量和痕量元素可一次测定。## 主要特点有哪些?- 沿等离子体长度的轴向观测 - 检出限低于径向观测 - 剪切气或冷却接口保护炬管 - 最适合低基体痕量分析 - 高基体样品需稀释 - CCD 检测并带内标校正

技术参数有哪些?典型的轴向观测电感耦合等离子体发射光谱仪配置:波长范围为 165–900 nm;观测方式为 axial;检出限为 0.1–2 µg/L typical;光学分辨率为 ≤ 0.009 nm at 200 nm;溶解固体耐受为 up to 1%;检测器为 CCD or CMOS array。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?轴向观测电感耦合等离子体发射光谱仪主要用于饮用水中痕量金属、制药和超纯化学品分析、食品饮料痕量元素检测、低基体环境水样。在更广泛的电感耦合等离子体发射光谱仪类别中,实验室还将其用于水和废水的多元素分析、制药元素杂质筛查、食品、饲料和农业样品元素分析。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 USP <730> Plasma Spectrochemistry、USP <233> Elemental Impurities—Procedures、ICH Q3D Elemental Impurities、ISO 11885 Water quality—ICP-OES determination of elements、US EPA Method 200.7、ASTM D5185、ISO/IEC 17025。本型号的认证候选包括 CE、ISO 9001 manufacturing、21 CFR Part 11 software compliance;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。ICP-OES 需要高纯氩气、较大功率、排风通风和控温房间。炬管、中心管和雾化器的状态强烈影响性能,因此检查和更换计划很重要。高溶解固体导致炬管和中心管上积盐,堵塞等离子体并改变灵敏度,因此采用稀释和基体匹配。酸消解的样品前处理必须避免污染。日常检查包括波长校准、炬管对位、等离子体稳定性和核查标准品。监控氩气供应和冷却机,并记录炬管和雾化器使用情况。数据完整性要求校准核查、质量控制样品和规定的接受标准。## 如何选择合适的轴向观测电感耦合等离子体发射光谱仪?当需要最低检出限且样品溶解固体低时,例如饮用水、纯化试剂或消解食品,选择轴向观测。请说明元素、目标检出限和基体。对于基体变化很大的样品,双向观测仪器可能比固定轴向配置更实用。### 与其他电感耦合等离子体发射光谱仪型号相比如何?应根据观测配置、检测器类型、分辨率和自动化程度选择 ICP-OES 光谱仪。径向观测最适合高基体样品和主量元素,轴向观测适合洁净样品中最低检出限,双向观测适合两者兼有的实验室。同时型 CCD 仪器可快速测定多种元素和谱线,顺序扫描仪器灵活、成本较低但较慢。当许多发射线重叠时,如稀土或富铁样品,高分辨率中阶梯光栅光学有助于分析。确认波长范围覆盖所需元素和谱线,包括卤素的远紫外谱线。检查氩气和电力消耗、样品引入选项、自动进样器容量,以及干扰校正和审计追踪等软件功能。

完整技术参数

完整技术参数
波长范围165–900 nm
观测方式axial
检出限0.1–2 µg/L typical
光学分辨率≤ 0.009 nm at 200 nm
溶解固体耐受up to 1%
检测器CCD or CMOS array
射频功率1000–1500 W
氩气消耗14–20 L/min
接口shear gas or cooled cone
同时测定元素数up to 70

以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。

应用领域

  • 饮用水中痕量金属
  • 制药和超纯化学品分析
  • 食品饮料痕量元素检测
  • 低基体环境水样

主要特点

  • 沿等离子体长度的轴向观测
  • 检出限低于径向观测
  • 剪切气或冷却接口保护炬管
  • 最适合低基体痕量分析
  • 高基体样品需稀释
  • CCD 检测并带内标校正

关于轴向观测电感耦合等离子体发射光谱仪的常见问题

对许多元素,轴向观测比径向观测的检出限约低五至十倍,因为穿过等离子体的光程长得多。确切改善取决于元素、谱线和基体,当自吸收或背景高时改善减小。

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