

气相进样口隔垫
GC Injection Port Septum
- SKU CHC-0002
- 色谱耗材
- CE (to be confirmed)
- ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价
价格取决于配置、数量与目的港。
主要技术参数
| 材料 | Silicone or PTFE-faced silicone |
|---|---|
| 最高温度 | Up to 350 °C |
| 流失 | Low-bleed grade |
| 直径 | 9–11 mm typical |
| 穿刺次数 | Up to several hundred |
| 覆面 | PTFE option |
作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:USP <621> (chromatography), USP <467> (residual solvents), USP <788> (particulate matter in injections)
什么是气相进样口隔垫?
气相进样口隔垫在针头刺入时密封进样口,同时耐受温度和流失。须在多次进样后再密封而不引入新峰。
什么是气相进样口隔垫?气相进样口隔垫在针头刺入时密封进样口,同时耐受温度和流失。须在多次进样后再密封而不引入新峰。## 概述
隔垫为硅胶、PTFE 覆面硅胶、丁基或混合弹性体圆片,在注射器针头周围密封进样口。其性能在 200–350 °C 进样口温度下很重要,普通硅胶会流失硅氧烷并在色谱图中出现鬼峰。低流失配方和 PTFE 覆面可减少此现象,且材料须在反复穿刺后再密封,使载气和样品不逸出。隔垫寿命取决于温度、针头质量、进样频率以及自动进样器进入进样口的方式。磨损的隔垫会泄漏,造成峰形差、保留漂移、空气进入和灵敏度下降,应按周期更换而非仅在问题出现时。正确安装且不过度拧紧可保持密封有效。## 工作原理是什么?色谱耗材通过提供洁净惰性的流路并保护分析柱免受颗粒、不挥发性残留和反应性分析物影响来发挥作用。在气相色谱中,进样口衬管在注入样品汽化时盛放样品,其几何形状、填充和去活影响峰形以及不挥发物是否到达色谱柱;隔垫密封进样口,须在多次进样后再密封且不流失硅氧烷。在液相色谱中,色谱柱两端筛板在允许液体通过的同时保持填料,孔径须细到不让颗粒通过又粗到避免高压。PEEK 管路和接头在金属相互作用或盐腐蚀重要处替代不锈钢。保护柱芯在分析柱前增加一小段类似填料,使污染物被截留于彼,从而延长昂贵色谱柱的寿命。## 主要特点有哪些?- 硅胶、PTFE 覆面或丁基 - 温度范围至 350 °C - 低流失配方 - 多次穿刺后再密封 - 按周期更换 - 正确安装以避免泄漏
技术参数有哪些?典型的气相进样口隔垫配置:材料为 Silicone or PTFE-faced silicone;最高温度为 Up to 350 °C;流失为 Low-bleed grade;直径为 9–11 mm typical;穿刺次数为 Up to several hundred;覆面为 PTFE option。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?气相进样口隔垫主要用于 GC 和 GC-MS 进样、残留溶剂检测、痕量分析、高温方法。在更广泛的色谱耗材类别中,实验室还将其用于气相色谱进样、液相色谱和 UHPLC、离子色谱。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 USP <621> (chromatography)、USP <467> (residual solvents)、USP <788> (particulate matter in injections)、ISO/IEC 17025 (testing and calibration laboratories)、USP <1058> (analytical instrument qualification)。本型号的认证候选包括 CE、ISO 9001 manufacturing;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。按进样次数和样品洁净度制定周期更换衬管、隔垫和保护柱芯,而不仅在性能明显下降时更换,因为污染是逐渐发展的。记录更换和促使更换的症状,如峰拖尾、残留或压力升高。核对确切部件号和尺寸,因为错误的卡套或衬管会泄漏、使空气渗入检测器或损坏进样口。用洁净工具处理筛板和衬管以避免污染,且绝不在未清洁和检查的情况下将一个方法的衬管用于另一方法。确认 PEEK 接头在其压力和温度范围内使用,并将部件存放于包装中。常规使用前确认新批号不引入鬼峰。## 如何选择合适的气相进样口隔垫?选择额定高于进样口温度且适合痕量工作的低流失隔垫,并按周期更换。询价时请提供进样口温度、进样次数、仪器型号和流失要求。### 与其他色谱耗材型号相比如何?使每种耗材匹配仪器、方法和分析物。GC 应选择适合进样模式(分流或不分流)的几何形状和填充的衬管,并对活性分析物去活;选择温度上限和流失特性适合分析物浓度和运行时间的隔垫。LC 应选择正确孔隙率和材料的筛板,离子分析和高盐流动相用 PEEK 或钛接头。增加与分析柱化学匹配的保护柱芯,并在污染到达色谱柱前更换。订购前确认尺寸、螺纹类型和压力,因为接头和筛板在系统之间不可互换。进行痕量分析时应索取批次信息并做空白测试以确认低背景。
完整技术参数
| 材料 | Silicone or PTFE-faced silicone |
|---|---|
| 最高温度 | Up to 350 °C |
| 流失 | Low-bleed grade |
| 直径 | 9–11 mm typical |
| 穿刺次数 | Up to several hundred |
| 覆面 | PTFE option |
| 密封 | Reseals on needle exit |
| 更换 | Scheduled |
| 泄漏症状 | Peak shape and retention shifts |
| 用途 | GC inlet sealing |
以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。
应用领域
- GC 和 GC-MS 进样
- 残留溶剂检测
- 痕量分析
- 高温方法
主要特点
- 硅胶、PTFE 覆面或丁基
- 温度范围至 350 °C
- 低流失配方
- 多次穿刺后再密封
- 按周期更换
- 正确安装以避免泄漏
关于气相进样口隔垫的常见问题
在高进样口温度下弹性体会释放硅氧烷和其他化合物,表现为峰或抬高基线,干扰痕量分析物。低流失隔垫和适当温度上限可减少此现象。
按进样次数计划,通常每 50–200 次进样,取决于温度和针头质量。泄漏表现为峰形变化、保留漂移和空气峰,因此应在此之前更换。
不可以。一旦穿刺和压缩,它可能无法正确再密封,且重复使用的隔垫会漏气并损失样品。更换时始终装新隔垫。
按进样次数和样品洁净度,脏样品通常每 50–200 次进样,洁净样品更少。峰拖尾、残留或响应降低等症状表明已超期。
隔垫材料在进样口温度下会流失硅氧烷或其他化合物,表现为峰,尤其在痕量分析中。低流失隔垫和适合隔垫的温度可减少该问题。
通常为 0.2–2 µm,细到保持填料并阻挡颗粒,又粗到避免过高背压。筛板材料须与流动相兼容。
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