

半微量分析天平
Semi-Micro Analytical Balance
- SKU ANB-0003
- 分析天平
- CE (to be confirmed)
- ISO 9001 manufacturing (to be confirmed)
- OIML R 76 type approval (to be confirmed)
价格面议 —— 按订单报 FOB / CIF 价
价格取决于配置、数量与目的港。
主要技术参数
| 可读性 | 0.01 mg |
|---|---|
| 量程 | 52–120 g |
| 重复性(标准偏差) | ≤ 0.015–0.03 mg |
| 线性度 | ±0.05–0.1 mg |
| 最小称量值(0.1% 公差) | ≈ 20–30 mg |
| 稳定时间 | ≈ 4–8 s |
作者:Lab Manufacturers China 技术团队最近复核 适用标准:USP <41>, USP <1251>, OIML R 76-1
什么是半微量分析天平?
半微量分析天平可读性为 0.01 mg,量程约 52 至 120 g,可对小样品进行准确称量,最小称量值较低。用于对照品、杂质分析和含量均匀度样品的制备。
什么是半微量分析天平?半微量分析天平可读性为 0.01 mg,量程约 52 至 120 g,可对小样品进行准确称量,最小称量值较低。用于对照品、杂质分析和含量均匀度样品的制备。## 概述
半微量天平的可读性比标准分析天平精细十倍。它采用更高分辨率的电磁传感单元和封闭性更好的防风罩,避免气流干扰 0.01 mg 的读数。由于分辨率与量程相互制约,量程降低至 52 至 120 g。重复性约为 0.015 至 0.03 mg,在 0.1% 公差下最小称量值约为 20 至 30 mg。稳定需要 4 至 8 秒,场所必须非常稳定,最好放在防振台上且温度波动小。内部校准和防静电选项很常见。该天平通常用于样品量少或昂贵的场合,例如对照品和效价测定。## 工作原理是什么?大多数分析天平采用电磁力补偿原理。称量盘连接到杠杆系统或一体式传感单元,永久磁场中的线圈产生使称盘回到参考位置的力。所需线圈电流与载荷成正比,经模数转换器转换为质量读数。光学或电感传感器检测称盘位置。防风罩使称盘与气流隔离,温度传感器补偿漂移。内部校准使用由电机驱动的内置参考砝码,外部校准则由操作者放置可溯源砝码。调平脚和水平指示器保证称盘垂直。电子部件采用滤波算法使读数在振动下保持稳定。## 主要特点有哪些?- 高分辨率力补偿传感单元,可读性 0.01 mg - 全封闭防风罩,可选防静电玻璃 - 最小称量值低,适用于少量对照品 - 可选内部校准,温度触发调整 - 可选内置离子发生器,消除瓶和粉末上的静电
技术参数有哪些?典型的半微量分析天平配置:可读性为 0.01 mg;量程为 52–120 g;重复性(标准偏差)为 ≤ 0.015–0.03 mg;线性度为 ±0.05–0.1 mg;最小称量值(0.1% 公差)为 ≈ 20–30 mg;稳定时间为 ≈ 4–8 s。以上数值代表该产品类别的常见水平,具体配置参数以报价单及随机校准文件为准。## 适用于哪些应用?半微量分析天平主要用于对照品称量、杂质和效价测定、含量均匀度样品制备、少量催化剂和材料称量。在更广泛的分析天平类别中,实验室还将其用于药品质量控制称量、标准溶液配制、重量分析。## 适用哪些标准与认证?相关标准与方法包括 USP <41>、USP <1251>、OIML R 76-1、Ph. Eur. 2.1.7、ASTM E898、GB/T 26497、ISO 9001。本型号的认证候选包括 CE、ISO 9001 manufacturing、OIML R 76 type approval;每项认证均需针对具体配置在发货前确认,仅提供已实际签发的证书。将天平安装在刚性、无振动的台面上,远离门、空调出风口、阳光直射和热源。使用前按制造商规定预热至少 30 分钟至数小时。移动后应调平并校准。使用有证砝码进行日常核查,并由认可机构定期校准,有助于满足药典要求。保持称盘和称量室清洁,避免将样品直接放在称盘上。将湿度控制在约 40% 至 60%,以限制静电和漂移。粉末样品使用防静电附件。记录日常检测、偏载和重复性数据,以支持质量审核。## 如何选择合适的半微量分析天平?当样品质量低于约 50 mg,或公差要求超出 0.1 mg 天平所能达到的范围时,应选择半微量天平。与标准机型相比,其场地要求更严格,量程更低。询价时应说明可读性、公差下的最小称量值、量程、离子发生器和校准类型。### 与其他分析天平型号相比如何?首先确定可读性。0.1 mg 天平可满足大多数常规称量,而小样品或最小称量值仅几毫克时需要 0.01 mg 半微量机型。然后检查量程,因为量程越大通常重复性越差。考虑校准方式:内部校准减少操作者工作并降低环境变化下的漂移,外部校准成本较低。受监管的实验室应核实数据完整性软件、审计追踪和打印输出。自动防风罩门可减少操作者影响和静电。还应考虑安装场所,因为振动、气流和温度变化对性能的影响往往超过标称规格。最后,应依据天平自身的重复性数据而非仅凭可读性,核实所需公差下的最小称量值。
完整技术参数
| 可读性 | 0.01 mg |
|---|---|
| 量程 | 52–120 g |
| 重复性(标准偏差) | ≤ 0.015–0.03 mg |
| 线性度 | ±0.05–0.1 mg |
| 最小称量值(0.1% 公差) | ≈ 20–30 mg |
| 稳定时间 | ≈ 4–8 s |
| 校准方式 | Internal or external |
| 称盘尺寸 | Ø 50–80 mm |
| 防风罩 | Fully enclosed glass |
| 工作温度 | 15–30 C, ≤ 0.5 K/h change |
以上数值代表该产品类别的常见水平。最终参数以报价单及随仪器提供的校准文件为准。
应用领域
- 对照品称量
- 杂质和效价测定
- 含量均匀度样品制备
- 少量催化剂和材料称量
主要特点
- 高分辨率力补偿传感单元,可读性 0.01 mg
- 全封闭防风罩,可选防静电玻璃
- 最小称量值低,适用于少量对照品
- 可选内部校准,温度触发调整
- 可选内置离子发生器,消除瓶和粉末上的静电
关于半微量分析天平的常见问题
当样品仅重数十毫克且要求 0.1% 或更优的公差时,例如对照品或小份样品,应使用 0.01 mg。对于约 100 mg 以上的较大样品,0.1 mg 天平通常已足够。
称量单元的数字计数是有限的,因此分辨率越精细,最大量程越低。量程 120 g、可读性 0.01 mg 的天平可分辨 1200 万个计数,接近中档电磁单元的实际极限。
使用防静电离子发生器或静电消除枪,采用金属或防静电称量容器,并使相对湿度保持在约 40% 以上。避免塑料手套摩擦防风罩。静电会导致读数不稳,表现为数个百分之一毫克的漂移。
分析天平可读性为 0.1 mg 或更精细,带防风罩,量程通常至 320 g。精密天平可读性为 1 mg 至 0.01 g,敞开式或带简易防风罩,量程更大。分析天平适用于样品制备和含量测定。
使用当天应使用有证砝码快速核查,移动或调平后应校准。由认可机构进行的完整校准和不确定度评估通常每年一次,或按实验室风险评估和质量体系的规定执行。
最小称量值是在规定相对公差(例如 0.1%)下可称量的最小样品质量,取决于天平的重复性,通常约为标准偏差的 1000 倍。USP <41> 依据实测重复性确定。
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